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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
NLC 2016-09-09
15:40
東京 コンベンションルーム AP渋谷道玄坂 Twitterを用いた皮膚障害情報の抽出
阿部健一吉田博哉神戸情報大NLC2016-28
消費者被害,特に皮膚障害の被害拡大を防ぐには,それらの情報を早期に収集し,分析することが重要である.本研究では,マイクロ... [more] NLC2016-28
pp.85-88
SDM 2011-10-20
14:20
宮城 東北大学未来研 埋め込み構造によるMOSFETにおけるランダム・テレグラフ・ノイズの低減
鈴木裕彌黒田理人寺本章伸米澤彰浩松岡弘章中澤泰希阿部健一須川成利大見忠弘東北大SDM2011-98
ブロードチャネル構造によって,劇的なランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)の低減効果を得た.形成されるチャネルの位置をト... [more] SDM2011-98
pp.5-9
SDM 2010-11-11
13:50
東京 機械振興会館 [招待講演]MOSFETにおけるランダムテレグラフシグナルの統計的評価方法
寺本章伸阿部健一須川成利大見忠弘東北大SDM2010-174
MOSFETにおけるRandom Telegraph Signal (RTS)の振幅,時定数等,重要なパラメータは一つ一... [more] SDM2010-174
pp.17-22
SDM 2009-10-29
17:15
宮城 東北大学 大規模アレイTEGを用いた長時間測定によるランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価
藤澤孝文阿部健一渡部俊一宮本直人寺本章伸須川成利大見忠弘東北大SDM2009-123
MOSFETの微細化,低ノイズデバイス作製のために,RTSノイズを抑制することが必要である.本報告では短時間で多数個のR... [more] SDM2009-123
pp.31-36
SDM, ED
(共催)
2009-06-24
16:45
海外 海雲台グランドホテル(釜山、韓国) A Statistical Analysis of Distributions of RTS Characteristics by Wide-Range Sampling Frequencies
Kenichi AbeTakafumi FujisawaAkinobu TeramotoSyunichi WatabeShigetoshi SugawaTadahiro OhmiTohoku Univ.ED2009-57 SDM2009-52
 [more] ED2009-57 SDM2009-52
pp.29-32
SDM 2008-10-10
14:00
宮城 東北大学 MOSFET特性ばらつき、RTSノイズの統計的評価
藤澤孝文須川成利渡部俊一阿部健一寺本章伸大見忠弘東北大SDM2008-163
 [more] SDM2008-163
pp.45-50
SDM 2008-10-10
15:15
宮城 東北大学 Stress Induced Leakage CurrentとRandom Telegraph Signalノイズとの相関
熊谷勇喜寺本章伸阿部健一藤澤孝文渡部俊一諏訪智之宮本直人須川成利大見忠弘東北大SDM2008-165
絶縁膜にFowler-Noldheim(FN)電子注入ストレスを印加した際の、stress induced leakag... [more] SDM2008-165
pp.57-62
SDM 2007-10-05
15:50
宮城 東北大学 大規模アレイTEGを用いたランダム・テレグラフ・シグナルの統計的評価
阿部健一須川成利黒田理人渡部俊一寺本章伸大見忠弘東北大SDM2007-192
非常に多数のMOSFETについて,それらの電気的特性及びランダム・テレグラフ・シグナル(RTS)特性を短時間で測定可能な... [more] SDM2007-192
pp.65-68
SDM 2007-10-05
16:15
宮城 東北大学 プラズマプロセスによるMOSFET特性ばらつきの統計的評価
渡部俊一須川成利阿部健一藤澤孝文宮本直人寺本章伸大見忠弘東北大SDM2007-193
新規に提案した大規模アレイTEGを用い、アンテナ比を変化させた多数個のMOSFETの電気的特性を統計的に評価した。アンテ... [more] SDM2007-193
pp.69-72
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