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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MW, ED
(共催)
2019-01-18
10:40
東京 日立中研 高温動作時のGaN-HEMTの故障モード分析
四田泰代住友電工デバイス・イノベーション)・舘野泰範米村卓巳古川将人山本 洋住友電工)・野瀬幸則清水 聡住友電工デバイス・イノベーションED2018-81 MW2018-148
本研究の目的は,高温通電試験におけるGaN-HEMTの閾値電圧変動の原因について,デバイス内部の応力・結晶歪に着目し,シ... [more] ED2018-81 MW2018-148
pp.67-70
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