| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| PRMU | 2009-03-14 11:45 |
宮城 | 東北工業大 | 線形弁別特徴変換に関する研究 ○小倉将義・高宮隆弘・和田俊和（和歌山大）・前田俊二・酒井 薫（日立）  PRMU2008-269 |
[more] | PRMU2008-269 pp.197-204 |
| PRMU | 2009-03-14 16:00 |
宮城 | 東北工業大 | 自己参照に基づくパターン欠陥検査法 ○淺海徹哉・和田俊和（和歌山大）・酒井 薫・前田俊二（日立） PRMU2008-283 |
[more] | PRMU2008-283 pp.287-292 |
| PRMU | 2006-09-08 13:20 |
福岡 | 九大(大橋キャンパス) | 特徴空間の再帰的分割に基づく半導体欠陥検査手法 ○酒井 薫・前田俊二（日立） |
[more] | PRMU2006-69 pp.65-72 |
| PRMU | 2006-03-16 09:00 |
福岡 | 九大(福岡市東区) | 複数パターン情報を利用した統計的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法 ○酒井 薫・前田俊二（日立） |
[more] | PRMU2005-233 pp.1-6 |
| PRMU, NLC (共催) |
2005-09-21 10:00 |
東京 | 東大(本郷) | 統計パターン比較と特徴的はずれ値検出による微小欠陥の認識手法 ○酒井 薫・前田俊二（日立） |
半導体回路パターンの比較検査においては，規則的に形成されたパターンを撮像し，隣接するパターンの明るさの差が大きい部分を欠... [more] | NLC2005-26 PRMU2005-53 pp.11-16 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]