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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, DC, IPSJ-ARC
(連催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-05-22
17:30
北海道 登別温泉第一滝本館 光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリ部の耐放射線性能試験
伊藤芳純渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
 [more] RECONF2017-9
pp.43-46
RECONF 2014-09-18
15:00
広島 杜の宿 光再構成型ゲートアレイのホログラムメモリ部の放射線耐性
森脇 烈伊藤宏幸静岡大)・前川 輝神戸高専)・渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
 [more] RECONF2014-20
pp.19-22
RECONF 2013-05-20
17:15
高知 高知県民文化ホール 120℃環境下での光再構成試験
森脇 烈渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
 [more] RECONF2013-7
pp.37-40
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
09:50
福岡 九州大学百年講堂 偏光依存性ホログラムメモリを用いた9コンテキスト光再構成型ゲートアレイ
森脇 烈渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
 [more] RECONF2012-52
pp.29-32
SIP, CAS, VLD
(共催)
2009-07-02
14:10
北海道 釧路市生涯学習センター 不揮発性体積型ホログラムメモリを用いたダイナミック光再構成型ゲートアレイの故障耐性
間渕隆之静岡大)・宮城賢二高松高専)・渡邊 実静岡大)・荻原昭文神戸高専
 [more] CAS2009-20 VLD2009-25 SIP2009-37
pp.109-112
CAS, CS, SIP
(共催)
2009-03-02
14:25
岐阜 岐阜長良川温泉国際会議場 不揮発性液晶ホログラムメモリを用いた光再構成型ゲートアレイ
間渕隆之静岡大)・宮城賢二高松高専)・渡邊 実静岡大)・荻原昭文高松高専
 [more] CAS2008-112 SIP2008-175 CS2008-86
pp.67-70
OME, OPE
(共催)
2008-11-14
13:50
東京 機械振興会館 Effect of Sensitizer Addition on Holographic PDLC Formation
Najmiah Radiah Binti MohamadNagaoka Univ. of Tech.)・Mohd Najib Bin KasmaniAkira EmotoTatsutoshi ShiodaNagaoka Univ. of Tech.)・Akifumi OgiwaraTakamatsu National College Of Tech.)・Nobuhiro KawatsukiUniv. Of Hyogo)・Hiroshi OnoNagaoka Univ. of Tech.
 [more] OME2008-69 OPE2008-129
pp.13-18
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