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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
VLD 2015-03-03
09:40
沖縄 沖縄県青年会館 プロセスばらつきとBTIの相関を考慮したタイミングマージン削減手法の検討
籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
プロセスばらつきとBTI (Bias Temperature Instability)の相関を考慮すること
で回路設計... [more]
VLD2014-163
pp.61-66
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
14:55
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 65nmSOTBプロセスで試作したリングオシレータを用いたアンテナダメージによる初期発振周波数劣化の測定と評価
大島 梓岸田 亮籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
近年の集積回路の微細化に伴い, BTIやアンテナダメージの影響が深刻化してい
る。本研究では, 65nm バルク・S... [more]
SDM2014-79 ICD2014-48
pp.93-98
CPSY, RECONF, VLD
(共催)
IPSJ-SLDM
(連催) [詳細]
2014-01-29
14:50
神奈川 慶応義塾大学 日吉キャンパス FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測
籔内美智太郎小林和淑京都工繊大
65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ
を元にモデル化し,長期的な劣化の予... [more]
VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83
pp.161-166
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-28
13:20
鹿児島 鹿児島県文化センター バルクとSOTBにおけるアンテナダメージによるリングオシレータの発振周波数ばらつきの評価
岸田 亮籔内美智太郎大島 梓小林和淑京都工繊大
近年の集積回路の微細化により、アンテナダメージによる信頼性の低下が懸念されている。
本稿ではリングオシレータにおいて発... [more]
VLD2013-83 DC2013-49
pp.159-164
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