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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2008-06-20 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 ～ 大学での試み ～ ○真田 克（高知工科大）  R2008-19 |
大学にて学生への品質意識をどこまで向上させることができるか試行錯誤している。当研究室はLSIの故障解析・診断技術を中心と... [more] | R2008-19 pp.25-30 |
| EMD, R (共催) |
2008-02-15 10:40 |
京都 | オムロン京都センタービル啓真館 | 簡易ESD装置の開発とその適用検討 ～ ESD破壊現象の特定 ～ ○山崎規雄・真田 克（高知工科大） R2007-59 EMD2007-114 |
ESD耐量の調査と破壊防止を目的とした簡易なESD試験装置を試作した。装置は高電圧供給源とリレースイッチ及び、信号制御回... [more] | R2007-59 EMD2007-114 pp.1-6 |
| R | 2007-09-14 10:55 |
高知 | 高知工科大学 | トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ～ フィードバック故障による発振現象の取得 ～ ○真田 克・中村朋矢・橋田啓示（高知工科大） R2007-30 |
[more] | R2007-30 pp.5-10 |
| ED, SDM, R (共催) |
2006-11-24 13:00 |
大阪 | 中央電気倶楽部 | ［招待講演］トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定 ○真田 克（高知工科大） |
[more] | R2006-31 ED2006-176 SDM2006-194 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-28 11:45 |
東京 | 機械振興会館 | 故障診断のための観測性の定量化について ○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青（九工大）・真田 克（NECエレクトロニクス） |
現在の故障診断は，回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い．しかし，回路の大規模化により，こ... [more] | CPM2004-167 ICD2004-212 pp.31-34 |
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