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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2008-06-20
14:55
東京 機械振興会館 LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 ~ 大学での試み ~
真田 克高知工科大R2008-19
大学にて学生への品質意識をどこまで向上させることができるか試行錯誤している。当研究室はLSIの故障解析・診断技術を中心と... [more] R2008-19
pp.25-30
EMD, R
(共催)
2008-02-15
10:40
京都 オムロン京都センタービル啓真館 簡易ESD装置の開発とその適用検討 ~ ESD破壊現象の特定 ~
山崎規雄真田 克高知工科大R2007-59 EMD2007-114
ESD耐量の調査と破壊防止を目的とした簡易なESD試験装置を試作した。装置は高電圧供給源とリレースイッチ及び、信号制御回... [more] R2007-59 EMD2007-114
pp.1-6
R 2007-09-14
10:55
高知 高知工科大学 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ~ フィードバック故障による発振現象の取得 ~
真田 克中村朋矢橋田啓示高知工科大R2007-30
 [more] R2007-30
pp.5-10
ED, SDM, R
(共催)
2006-11-24
13:00
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定
真田 克高知工科大
 [more] R2006-31 ED2006-176 SDM2006-194
pp.1-6
ICD, CPM
(共催)
2005-01-28
11:45
東京 機械振興会館 故障診断のための観測性の定量化について
豊田直哉梶原誠司温 暁青九工大)・真田 克NECエレクトロニクス
現在の故障診断は,回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い.しかし,回路の大規模化により,こ... [more] CPM2004-167 ICD2004-212
pp.31-34
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