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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-02-14 11:25 |
東京 | 機械振興会館 | 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ ○新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター）  DC2010-62 |
LSI の微細化と高速化に伴い，プロセスばらつきの影響でチップのスペックを超えてしまうパラメトリック不良の増大が懸念され... [more] | DC2010-62 pp.21-26 |
| DC | 2009-06-19 11:35 |
東京 | 機械振興会館 | 縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛（愛媛大）・清水良浩・相京 隆（半導体理工学研究センター）・高松雄三（愛媛大） DC2009-13 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い，タイミング不良である遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．故障診断結果... [more] | DC2009-13 pp.19-24 |
| DC | 2009-06-19 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト ○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2009-15 |
低電力設計の進展とともに，テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している．過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] | DC2009-15 pp.29-30 |
| DC | 2009-02-16 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法 ○高橋 寛・樋上喜信・和泉太佑・相京 隆・高松雄三（愛媛大） DC2008-73 |
微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている． そのため，品質保証のため... [more] |
DC2008-73 pp.31-36 |
| DC | 2009-02-16 14:40 |
東京 | 機械振興会館 | ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル ○新井雅之・周藤明史・岩崎一彦（首都大東京）・中野勝幸・新谷道広・畠山一実・相京 隆（半導体理工学研究センター） DC2008-75 |
[more] | DC2008-75 pp.43-48 |
| DC | 2008-06-20 15:50 |
東京 | 機械振興会館 | オープン故障診断の性能向上について ○山崎浩二・堤 利幸（明大）・高橋 寛・樋上喜信・相京 隆（愛媛大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大）・高松雄三（愛媛大） DC2008-16 |
回路の微細化や銅配線の導入により，配線やビアの断線の発生頻度が高まっている．そのため，オープン故障診断法の開発の重要性が... [more] | DC2008-16 pp.29-34 |
| DC | 2008-02-08 09:25 |
東京 | 機械振興会館 | 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法 高橋 寛・樋上喜信・相京 隆・門山周平・○渡部哲也・高松雄三（愛媛大）・堤 利幸・山崎浩二（明大）・四柳浩之・橋爪正樹（徳島大） DC2007-68 |
配線の微細化，長距離化に伴って，配線およびビアの断線（オープン）の欠陥によって生じる故障が顕在化している． 本稿では，... [more] |
DC2007-68 pp.7-12 |
| DC | 2008-02-08 09:50 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障に対する診断用テスト生成法 相京 隆（愛媛大/半導体理工学研究センター）・樋上喜信・高橋 寛・○吉川 達・高松雄三（愛媛大） DC2007-69 |
半導体デバイスの微細化・高速化に伴い， 動作タイミングに影響を与える遅延故障に対する故障診断の要求が高まってきている．... [more] |
DC2007-69 pp.13-18 |
| ICD, CPM (共催) |
2007-01-19 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討 ○新井雅之・福本 聡・岩崎一彦（首都大東京）・松尾 達・平出貴久（富士通研）・小西秀明・江守道明・相京 隆（富士通） |
[more] | CPM2006-149 ICD2006-191 pp.115-120 |
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