電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
技報オンライン
‥‥ (ESS/通ソ/エレソ/ISS)
技報アーカイブ
‥‥ (エレソ/通ソ)
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 8件中 1~8件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2016-06-20
16:15
東京 機械振興会館 [招待講演]国際会議報告:VTS2016
畠山一実群馬大/クリエイトロン
2016年4月に米国ネバダ州ラスベガスで開催された第34回VLSIテストシンポジウム(VTS2016)について報告する.... [more] DC2016-16
pp.37-42
DC 2013-12-13
13:00
石川 和倉温泉観光会館 FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ
伊藤渓太米田友和大和勇太畠山一実井上美智子奈良先端大
本論文では,FPGA上のアプリケーション回路をテスト対象とした効率の良いスキャンBISTアーキテクチャを提案する.
提... [more]
DC2013-68
pp.1-6
DC 2013-02-13
16:40
東京 機械振興会館 フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
吉見優太奈良先端大)・畠山一実大和勇太米田友和井上美智子奈良先端大/JST
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] DC2012-90
pp.61-66
DC 2012-06-22
16:10
東京 機械振興会館 On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing
Yuta YamatoTomokazu YonedaKazumi HatayamaMichiko InoueNAIST
 [more] DC2012-15
pp.39-44
DC 2011-06-24
14:40
東京 機械振興会館 [招待講演]国際会議報告:VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)
畠山一実奈良先端大
2011年5月に米国カリフォルニア州デイナポイントで開催された第29回VLSIテストシンポジウム(VTS2011)につい... [more] DC2011-11
pp.17-22
DC 2011-02-14
11:25
東京 機械振興会館 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ
新谷道広畠山一実相京 隆半導体理工学研究センター
LSI の微細化と高速化に伴い,プロセスばらつきの影響でチップのスペックを超えてしまうパラメトリック不良の増大が懸念され... [more] DC2010-62
pp.21-26
DC 2009-06-19
14:45
東京 機械振興会館 事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト
埜田健治伊藤秀昭畠山一実相京 隆半導体理工学研究センター
低電力設計の進展とともに,テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している.過剰な電力消費やIRドロップによるテス... [more] DC2009-15
pp.29-30
DC 2009-02-16
14:40
東京 機械振興会館 ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル
新井雅之周藤明史岩崎一彦首都大東京)・中野勝幸新谷道広畠山一実相京 隆半導体理工学研究センター
 [more] DC2008-75
pp.43-48
 8件中 1~8件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会