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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| CAS | 2016-01-28 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | マイクロホン間の伝達系の同定に基づく音源定位 ○泉 雄大・陶山健仁（東京電機大）  CAS2015-66 |
本研究では，音源定位のための空間エイリアシング問題の解決法について検討する．音源定位は，マイクロホン間の到達時間差に基づ... [more] | CAS2015-66 pp.27-32 |
| MI | 2016-01-19 13:20 |
沖縄 | 那覇市ぶんかテンブス館 | 磁性体ナノ粒子混入寒天ファントムの加温特性 ○小泉雄大・加藤和夫（明大）・小林 猛（中部大）・竹内 晃（ルーククリニック） MI2015-93 |
本研究では，腫瘍の集中的加温治療を目的として，磁性体ナノ粒子を用いた加温方式を提案した．具体的には，MRIの造影剤として... [more] | MI2015-93 pp.99-102 |
| SDM | 2012-10-25 15:45 |
宮城 | 東北大学未来研 | AR-XPS及びHAX-PESによるSiO2/SiC界面の化学結合状態評価 ○岡田葉月・小松 新・渡辺将人（東京都市大）・泉 雄大・室 隆圭介（高輝度光科学研究センター）・澤野憲太郎・野平博司（東京都市大） SDM2012-90 |
我々は、SPring-8のBL27SUでSiO2/SiCの角度分解X線光電子分光(AR-XPS)測定とエッチングにより酸... [more] | SDM2012-90 pp.5-9 |
| SDM | 2012-06-21 15:05 |
愛知 | 名古屋大学（ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー） | 極浅接合における異なる化学結合状態を持つ不純物の検出とその深さ方向プロファイル評価 ○筒井一生・金原 潤・宮田陽平（東工大）・野平博司（東京都市大）・泉 雄大・室 隆桂之・木下豊彦（高輝度光科学研究センター）・パールハット アヘメト・角嶋邦之・服部健雄・岩井 洋（東工大） SDM2012-56 |
Si基板表面にBドープおよびAsドープにより形成された極浅接合中に存在する複数の化学結合状態を持つ不純物の深さ方向濃度プ... [more] | SDM2012-56 pp.69-74 |
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