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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2018-04-20
10:45
東京 機械振興会館 [依頼講演]同/異RowでのWLパルスタイミング調整を用いた同期型2RW 8T Dual-port SRAMのダイナミック電力削減
横山佳巧石井雄一郎奥田治之新居浩二REL
同期2-read/write (2RW) 8T dual-port (DP) SRAMにおいて動作電力を削減する効果的な... [more] ICD2018-9
pp.33-38
ICD 2016-04-14
10:10
東京 機械振興会館 [依頼講演]低消費電力MCU向け40-nm 4-Mb組込みSRAMを用いた効率的なスクリーニング手法
良田雄太ルネサス システムデザイン)・横山佳巧石井雄一郎ルネサス エレクトロニクス)・稲田敏浩田中浩司田中美紀辻橋良樹ルネサス システムデザイン)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス
低消費マイコン(MCU)向けに、効率的なテストスクリーニング回路を搭載した組込みシングルポートSRAMを開発した。室温で... [more] ICD2016-1
pp.1-6
SDM 2016-01-28
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]最先端テクノロジノードにおける2RWデュアルポートSRAM設計事例
新居浩二薮内 誠ルネサス エレクトロニクス)・横山佳巧ルネサス システムデザイン)・石井雄一郎岡垣 健森本薫夫塚本康正ルネサス エレクトロニクス)・田中浩司田中美紀ルネサス システムデザイン)・田中信二ルネサス エレクトロニクス
 [more] SDM2015-125
pp.21-25
ICD 2015-04-16
13:50
長野 信州大学 [依頼講演]車載MCUにおける-40~170℃動作可能なWrite Disturb問題スクリーニング回路を有する40 nm Dual-port、Two-port SRAM
横山佳巧石井雄一郎福田達哉辻橋良樹宮西篤史ルネサス エレクトロニクス)・朝山 忍前川径一柴 和利ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス
40nm Flash混載CMOSプロセスを使用して、自動車アプリケーションMCU用に-40~170℃で動作するDual-... [more] ICD2015-3
pp.9-14
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
10:50
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 40 nm Flash混載プロセスを使用した170℃動作可能な超低電力SRAM
横山佳巧石井雄一郎小嶋英充宮西篤史辻橋良樹朝山 忍柴 和利田中浩二福田達哉新居浩二柳沢一正ルネサス エレクトロニクス
車載マイコン向けの40nmフラッシュ混載プロセスを用いて-40~170℃という広い温度範囲で安定動作可能なSRAMマクロ... [more] SDM2014-74 ICD2014-43
pp.65-70
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