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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-12-20
16:30
和歌山 南紀くろしお商工会 バーインテストにおけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京
 [more]
DC 2019-02-27
10:15
東京 機械振興会館 LSIのホットスポット分布の解析に関する研究
河野雄大宮瀬紘平九工大)・呂 學坤台湾科技大)・温 暁青梶原誠司九工大
LSIの通常動作時におけるIR-drop増加に起因する性能低下などの問題は,電源供給ネットワークを強化するなどの手段で設... [more] DC2018-74
pp.19-24
DC 2018-12-14
13:00
沖縄 沖縄県立宮古青少年の家 FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,劣化によ... [more] DC2018-58
pp.1-6
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
DC 2018-02-20
11:00
東京 機械振興会館 正当化操作を用いたレイアウト上のホットスポット特定に関する研究
河野雄大宮瀬紘平梶原誠司温 暁青九工大
LSIのテスト時は,通常動作より多くの信号値遷移を伴うため消費電力が増大する.特に実速度スキャンテストにおける過度な消費... [more] DC2017-80
pp.19-24
DC 2018-02-20
15:05
東京 機械振興会館 デジタル温度電圧センサにおける特定温度電圧領域の推定精度向上手法
井上賢二三宅庸資梶原誠司九工大
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO:Ring Oscillator)を用いたデジタ... [more] DC2017-85
pp.49-54
DC 2017-12-15
15:30
秋田 放送大学秋田学習センター FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため,論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] DC2017-75
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:25
熊本 くまもと県民交流館パレア On Avoiding Test Data Corruption by Optimal Scan Chain Grouping
Yucong ZhangStefan HolstXiaoqing WenKohei MiyaseSeiji KajiharaKIT)・Jun QianAMD
 [more] VLD2017-42 DC2017-48
pp.91-94
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
DC
(併催) [詳細]
2017-07-26
16:15
秋田 秋田アトリオンビル(秋田) デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため,リングオシレータ(RO: Ring Oscillator)を利用したデ... [more] DC2017-19
pp.19-24
DC 2017-02-21
10:55
東京 機械振興会館 電源ネットワークに対するIR-Dropの影響範囲特定に関する研究
宮瀬紘平濱崎機一九工大)・ザウアー マティアスフライブルク大)・ポリアン イリアパッサウ大)・ベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大
LSIの微細化や低消費電力化はLSIテストを非常に困難にしている.今後のさらなる微細化は配線幅の縮小を可能にし,低消費電... [more] DC2016-75
pp.7-10
DC 2016-02-17
10:25
東京 機械振興会館 論理パスとクロックパスを考慮した実速度スキャンテスト生成手法について
李 富強温 暁青ホルスト シュテファン宮瀬紘平梶原誠司九工大
スキャンキャプチャ時に発生するIR-Dropは論理パスのみならず、クロックパスにも影響を与える。本稿では、論理パスとクロ... [more] DC2015-87
pp.7-12
DC 2015-12-18
13:20
新潟 クリエート村上(村上市) デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について
三宅庸資加藤隆明糸永卓矢佐藤康夫梶原誠司九工大
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている.このデジタルモニタは,一般的なアナログ回路によるモ... [more] DC2015-74
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
15:45
長崎 長崎県勤労福祉会館 [フェロー記念講演]VLSIテスト技術によるシステムディペンダビリティ向上への期待
梶原誠司九工大
VLSIの製造不良の検出を目的に行われる生産テストの技術は,テスト品質向上(故障検出能力の向上)とコスト削減を主眼に研究... [more] VLD2015-44 CPM2015-128 ICD2015-53 CPSY2015-64 DC2015-40 RECONF2015-51
pp.43-44(VLD), pp.9-10(CPM), pp.9-10(ICD), pp.19-20(CPSY), pp.43-44(DC), pp.19-20(RECONF)
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
10:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討
喜納 猛三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として,チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] VLD2015-63 DC2015-59
pp.165-170
DC 2015-06-16
15:00
東京 機械振興会館 地下3階2号室 レイアウトデータを用いたテスト時の高消費電力エリア特定手法に関する研究
宮瀬紘平九工大)・ザウアー マティアスベッカー ベルンドフライブルク大)・温 暁青梶原誠司九工大
実速度スキャンテストにおける消費電力増大に関する問題は年々深刻化している.特に,瞬間的な過度の消費電力の増加は,過度なI... [more] DC2015-18
pp.13-18
DC 2014-12-19
13:00
富山 高岡テクノドーム FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討
佐藤康夫三宅庸資梶原誠司九工大
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが,NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問... [more] DC2014-67
pp.1-6
DC 2014-12-19
13:25
富山 高岡テクノドーム FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ
三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大
VLSI動作時の信頼性確保に,チップへの温度モニタの搭載が有効であり,リングオシレータを用いてその周波数から温度測定する... [more] DC2014-68
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-28
14:45
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) FPGAにおけるオンチップ遅延測定について
安部賢太朗三宅庸資梶原誠司佐藤康夫九工大
本論文では,FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる.半導体技術の進歩により,微細化,高... [more] VLD2014-109 DC2014-63
pp.245-250
DC 2014-06-20
14:05
東京 機械振興会館 低キャプチャ電力スキャンテスト生成のためのX埋め込み手法
李 富強温 暁青宮瀬紘平ホルスト シュテファン梶原誠司九工大
低キャプチャ電力のスキャンテストパターンを生成するため,セルの実効電圧降下
(IR-Drop)との関わりの強いローカル... [more]
DC2014-12
pp.15-20
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