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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2015-04-16
13:50
長野 信州大学 [依頼講演]車載MCUにおける-40~170℃動作可能なWrite Disturb問題スクリーニング回路を有する40 nm Dual-port、Two-port SRAM
横山佳巧石井雄一郎福田達哉辻橋良樹宮西篤史ルネサス エレクトロニクス)・朝山 忍前川径一柴 和利ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス
40nm Flash混載CMOSプロセスを使用して、自動車アプリケーションMCU用に-40~170℃で動作するDual-... [more] ICD2015-3
pp.9-14
ICD, SDM
(共催)
2014-08-05
10:50
北海道 北海道大学 情報教育館(札幌市) 40 nm Flash混載プロセスを使用した170℃動作可能な超低電力SRAM
横山佳巧石井雄一郎小嶋英充宮西篤史辻橋良樹朝山 忍柴 和利田中浩二福田達哉新居浩二柳沢一正ルネサス エレクトロニクス
車載マイコン向けの40nmフラッシュ混載プロセスを用いて-40~170℃という広い温度範囲で安定動作可能なSRAMマクロ... [more] SDM2014-74 ICD2014-43
pp.65-70
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