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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2018-11-08
13:30
東京 機械振興会館 [招待講演]先端半導体素子信頼性のデバイスシミュレーション
石原貴光松澤一也内藤 毅吉富貞幸東芝メモリSDM2018-67
 [more] SDM2018-67
pp.17-22
SDM 2016-11-10
15:40
東京 機械振興会館 [招待講演]ISFETの構造が感度に与える影響のシミュレーション
松澤一也東芝SDM2016-83
 [more] SDM2016-83
pp.27-32
SDM 2011-11-10
13:50
東京 機械振興会館 [招待講演]デバイスシミュレーションによるランダムテレグラフノイズの本質的理解
東 悠介百々信幸百瀬寿代大黒達也松澤一也東芝SDM2011-118
Random Telegraph Noise (RTN)の本質理解に向け、過渡解析および周波数領域解析が可能なRTNデバ... [more] SDM2011-118
pp.17-20
CAS
(第二種研究会)
2010-10-06
09:45
千葉 幕張メッセ [招待講演]DFRシミュレーション、デバイスから回路へ
松澤一也萩島大輔石原貴光東芝
LSIの価値には機能と性能だけでなく、長期信頼性も重要な要素として含まれる。従来は、膜レベルとデバイス・レベルでの信頼性... [more]
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