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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2019-12-20
16:30
和歌山 南紀くろしお商工会 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京DC2019-85
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.回路の劣化による遅延の増加を検出するには,フィールドで... [more] DC2019-85
pp.37-42
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