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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG (連催) |
2018-11-22 15:10 |
海外 | KAIST（韓国大田市） | ［ポスター講演］A Specification Method of Faulty Bytes in Cryptographic Module Using EM Information Leakage ○Naoto Saga（Tohoku Univ.）・Yu-ichi Hayashi（NAIST）・Takaaki Mizuki・Hideaki Sone（Tohoku Univ.）  EMCJ2018-68 |
差分故障解析などの代表的な故障利用解析手法では，暗号化処理において特定のタイミング・バイト数の計算誤りが発生する必要があ... [more] | EMCJ2018-68 pp.39-40 |
| EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG (連催) |
2017-05-18 14:43 |
海外 | 南洋理工大学 | ［ポスター講演］暗号機器の故障検知のための加算回路の漏えい電磁情報計測 ○嵯峨直人（東北大）・林 優一（奈良先端大）・水木敬明・曽根秀昭（東北大） EMCJ2017-9 |
本研究では，暗号機器のIC内部で発生した故障をICから漏えいする電磁情報を観測することで検出する．具体的には，加算回路を... [more] | EMCJ2017-9 pp.5-6 |
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