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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, HWS
(共催) [詳細]
2022-03-08
09:55
ONLINE オンライン開催 製造装置に起因する不連続な特性ばらつきを考慮したウェハ空間特性ばらつきモデル化
長尾匠真奈良高専)・新谷道広奈良先端大)・山口賢一岩田大志奈良高専)・中村友紀梶山賀生栄木 誠ソニーセミコンダクタマニュファクチャリング)・井上美智子奈良先端大VLD2021-92 HWS2021-69
ウェハ面上に製造された集積回路(Large-scale integrated circuit,LSI)の性能を予測する統... [more] VLD2021-92 HWS2021-69
pp.87-92
HWS, VLD
(共催)
2019-02-28
15:20
沖縄 沖縄県青年会館 自動微分を用いたSPICEモデルパラメータ抽出環境の構築
上田 葵奈良高専)・新谷道広奈良先端大)・岩田大志山口賢一奈良高専)・井上美智子奈良先端大VLD2018-117 HWS2018-80
MOSFETコンパクトモデルのパラメータ抽出は,高精度な回路シミュレーションを行うために重要な工程の1つであるが,コンパ... [more] VLD2018-117 HWS2018-80
pp.145-150
DC 2014-02-10
09:00
東京 機械振興会館 モジュール間結合増加率に基づくスキャンチェーン接続法
小松 巡岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-79
近年,半導体プロセスの微細化により,動作速度や電力消費に与える配置配線の影響が大きくなっており,
テスト容易化設計時に... [more]
DC2013-79
pp.1-5
DC 2014-02-10
09:50
東京 機械振興会館 非同期式QDI回路における任意の故障に対する検出手法
水谷早苗岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-81
VLSI の製造プロセスの微細化に伴い,非同期式回路が注目されている.非同期式回路の実現方法として, 同期式回路から非同... [more] DC2013-81
pp.13-18
DC 2014-02-10
10:30
東京 機械振興会館 DCSTP回路に対する最適電力テストパターン順序付け手法
小河 亮岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-82
VLSIのテスト時にはオーバーテストを防ぐために消費電力を通常動作時程度にする必要がある.テスト時の電力が高いとテスト時... [more] DC2013-82
pp.19-24
DC 2014-02-10
12:25
東京 機械振興会館 メルセンヌ・ツイスタアルゴリズムにもとづいた効果的なテストパターン生成器の提案
里中沙矢香岩田大志山口賢一奈良高専DC2013-86
高い信頼性かつ低コストな出荷テストを行うために,BISTではテストパターン生成器としてLFSRが広く用いられている.しか... [more] DC2013-86
pp.43-48
DC 2010-06-25
13:30
東京 機械振興会館 C素子スキャンパスを用いた非同期式順序回路に対する完全スキャン設計法
岩田大志大竹哲史井上美智子藤原秀雄奈良先端大DC2010-8
VLSIの大規模,高速化に伴い,大域クロックの分配が困難になるなどの問題が顕在化しており,
それらの問題を解決する手段... [more]
DC2010-8
pp.1-6
VLD, CAS, SIP
(共催)
2008-06-27
09:40
北海道 北海道大学 高等教育機能開発センター 機能等価性情報を用いたRTL-GLパスマッピングの一手法
岩田大志大竹哲史藤原秀雄奈良先端大CAS2008-21 VLD2008-34 SIP2008-55
論理合成やテストの際,回路のフォールスパスの情報を用いることで論理合成時間の短縮,回路面積の削減,テスト生成時間の短縮,... [more] CAS2008-21 VLD2008-34 SIP2008-55
pp.13-18
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