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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2012-12-18
11:45
東京 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール 65 nmプロセスにおける低消費電力冗長化FF(BCDMR-ACFF)の設計と評価
増田政基久保田勘人山本亮輔京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2012-117
集積回路の微細化に伴い、ソフトエラーが問題となっている。対策として冗長化を行なうが、面積・消費電力が増大する。面積を削減... [more] ICD2012-117
pp.109-113
ICD 2011-12-16
09:55
大阪 大阪大学会館 MCUに強靭な耐ソフトエラーフリップフロップ
山本亮輔濱中 力京都工繊大)・古田 潤京大)・小林和淑京都工繊大/JST)・小野寺秀俊京大/JSTICD2011-129
ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下に対し,フリップフロップの3重化等,多様な耐ソフトエラーフリップフロップが提案され... [more] ICD2011-129
pp.131-136
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