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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC, CPSY (併催) |
2013-08-01 18:00 |
福岡 | 北九州国際会議場 | レジスタ多重化による耐過渡故障高信頼プロセッサの評価 ○緑川直樹・小山善史（首都大東京）・新井雅之（日大）・福本 聡（首都大東京）  DC2013-20 |
近年，様々なアーキテクチャを前提に過渡故障に対するプロセッサの高信頼設計手法が提案されている．本研究では，そのような過渡... [more] | DC2013-20 pp.21-25 |
| DC | 2011-10-20 11:30 |
東京 | 機械振興会館 | 高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討 ○サイサナソンカム アロムハック・今井健太・小山善史・新井雅之・福本 聡（首都大東京） DC2011-21 |
近年，電力変換回路の小型化や高密度化の研究が進んでいる．それに伴って，制御回路やゲート駆動回路などの周辺回路と大電流の主... [more] | DC2011-21 pp.7-11 |
| DC, CPSY (併催) |
2011-07-28 15:45 |
鹿児島 | かごしま県民交流センター | 過渡故障を対象とした高信頼化プロセッサの研究動向 ○小山善史・今井健太・サイサナソンカム アロムハック・新井雅之・福本 聡（首都大東京） DC2011-16 |
[more] | DC2011-16 pp.7-12 |
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