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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM, R, ED
(共催)
2007-11-16
16:10
大阪 中央電気倶楽部 Cuイオンドリフトに起因したCu配線間TDDB劣化モデル
鈴村直仁山本茂久真壁一也小笠原 誠小守純子村上英一ルネサステクノロジR2007-53 ED2007-186 SDM2007-221
Cuイオンドリフトに起因したCu配線間経時絶縁破壊(Time-Dependent Dielectric Breakdow... [more] R2007-53 ED2007-186 SDM2007-221
pp.39-44
ICD, CPM
(共催)
2005-01-27
14:00
東京 機械振興会館 SILプレートによる高分解能故障解析
吉田岳司小山 徹小守純子益子洋治ルネサステクノロジ
 [more] CPM2004-157 ICD2004-202
pp.13-17
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