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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2006-06-21
16:25
広島 広島大学, 学士会館 NiSi/SiO2界面近傍の化学結合状態およびNiSi 層の実効仕事関数評価
吉永博路東 大介村上秀樹大田晃生宗高勇気東 清一郎宮崎誠一広島大)・青山敬幸保坂公彦富士通研)・芝原健太郎広島大
不純物(Sb、As 、PおよびB)添加したNi-silicideを熱酸化シリコン酸化膜(SiO2)上に形成し、Si基板を... [more] SDM2006-49
pp.43-48
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