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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
NLP 2015-04-24
13:55
香川 香川県社会福祉総合センター(高松市) 確率共鳴による微弱信号の高感度検出
李 ウェン金井久亮今川健吾幕内雅巳大坂英樹日立NLP2015-21
社会インフラ分野などでは,過酷なノイズ環境に埋もれた微弱信号を高感度に検出することが要求されている.従来の加算平均などフ... [more] NLP2015-21
pp.99-104
EMCJ 2013-11-22
13:30
東京 東京電機大 車載機器の等価回路化による伝導ノイズ解析手法の検討
鳥越 誠土江慶幸矢作保夫須賀 卓大坂英樹日立)・稲垣隆之日立オートモティブシステムズEMCJ2013-92
スイッチング素子の高速化・高効率化に伴い,車載電子機器から発生する電磁ノイズの抑制が課題になっている。電子機器間のノイズ... [more] EMCJ2013-92
pp.7-10
EMCJ, ITE-BCT
(連催)
2013-03-08
09:55
東京 機械振興会館 基板接触放電の解析モデルと伝播メカニズム
小宮泰麿横田 等原 敦大坂英樹須賀 卓日立EMCJ2012-124
回路基板の接触放電試験を模擬した電磁界解析モデルの精度の向上を行った.解析モデルは放電ガンの先端の放電チップ形状と基板の... [more] EMCJ2012-124
pp.7-12
EMCJ, ITE-BCT
(連催)
2013-03-08
10:15
東京 機械振興会館 印加点と同一基板面上にある伝送線路に伝播する基板接触放電ノイズの伝播挙動
原 敦小宮泰麿須賀 卓大坂英樹横田 等日立EMCJ2012-125
基板に直接接触放電で印加した静電気ノイズが,印加点と同一基板面上にあるマイクロストリップラインに伝播する挙動を,実験及び... [more] EMCJ2012-125
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-27
09:00
福岡 九州大学百年講堂 [招待講演]超高速電気伝送を実現する回路実装技術
植松 裕新海 剛村岡 諭柳生正義大坂英樹日立CPM2012-112 ICD2012-76
 [more] CPM2012-112 ICD2012-76
pp.1-6
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2012-11-28
11:20
福岡 九州大学百年講堂 双安定ポテンシャル回路による低S/N比信号の高感度検出
金井久亮李 ウェン今川健吾幕内雅巳植松 裕大坂英樹日立VLD2012-93 DC2012-59
過酷なノイズ環境においても微弱信号を高感度に検出する方法として,非線形系システムにおいてある特定のノイズ強度のときに信号... [more] VLD2012-93 DC2012-59
pp.195-200
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-02
16:00
高知 高知市文化プラザ [パネル討論]EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 ~ 実装サイドからチップ設計への提言 ~
大坂英樹日立)・浅井秀樹静岡大)・伊部英史日立)・齊藤義行パナソニック)・原田高志NEC)・高橋成正日本IBMCPM2009-142 ICD2009-71
高速化、高機能化するシステムLSIを目標通り動かし、性能を最大に引き出すためには、そのチップの実装状態が決定的に重要にな... [more] CPM2009-142 ICD2009-71
pp.47-49
EMCJ 2009-11-20
13:55
東京 青山学院大学 青山キャンパス 遅延観測方式によるチップ内電源ノイズの観測
植松 裕大坂英樹鈴木英一柳生正義齊藤達也日立EMCJ2009-83
給電系設計のためのチップ内電源ノイズ評価手法として,インバータ回路の電位変動を出力波形の遅延変動量に変換し外部でこれを観... [more] EMCJ2009-83
pp.25-30
EMCJ 2009-11-20
14:20
東京 青山学院大学 青山キャンパス TMMと近似等価回路によるLSIパッケージ給電系解析の高速化
遠山仁博植松 裕大坂英樹日立)・諏訪元大中村 篤ルネサステクノロジEMCJ2009-84
LSI パッケージの給電設計最適化の効率向上には,CAD データが存在しない設計構想段階において,設計案毎の給電性能を短... [more] EMCJ2009-84
pp.31-36
CPM, ICD
(共催)
2008-01-18
10:30
東京 機械振興会館 実メモリモジュールを模擬したテスト基板におけるDDR2-SDRAMのVrefノイズ許容値の測定手法
植松 裕大坂英樹日立)・西尾洋二波多野 進エルピーダメモリCPM2007-139 ICD2007-150
Vrefの適切なターゲットインピーダンスの設定により,低コストで高いノイズ耐性を有するDDR-SDRAMを実現することを... [more] CPM2007-139 ICD2007-150
pp.65-69
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