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講演検索結果
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 60件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC, SS
(共催)
2019-10-24
16:00
熊本 熊本大学 n回状態遷移被覆に基づく非スキャンオンラインテスト法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more] SS2019-19 DC2019-47
pp.37-42
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2019-03-18
09:00
鹿児島 西之表市民会館(種子島) 最大充足化問題を用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] CPSY2018-117 DC2018-99
pp.315-320
DC 2019-02-27
09:50
東京 機械振興会館 キャプチャセーフテストベクトルの故障伝搬経路を模倣した低消費電力志向ドントケア判定法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
初期テスト集合中のキャプチャアンセーフテストベクトル数とアンセーフ故障数を削減するために,低消費電力を志向したドントケ判... [more] DC2018-73
pp.13-18
DC 2019-02-27
13:40
東京 機械振興会館 コントローラの遷移故障検出率向上のための状態割当て手法
吉村正義京都産大)・竹内勇希山崎紘史細川利典日大
近年,VLSIの微細化・高速化に伴いタイミング欠陥が増加し,遷移故障モデルにおけるテストが必要不可欠である.しかし,回路... [more] DC2018-78
pp.43-48
HWS, VLD
(共催)
2019-03-01
12:40
沖縄 沖縄県青年会館 論理暗号化に対する効率的なSAT攻撃アルゴリズムの評価
松永裕介九大)・吉村正義京都産大
 [more] VLD2018-126 HWS2018-89
pp.199-204
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:00
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理暗号化に対するSAT攻撃の効率的なアルゴリズムについて
松永裕介九大)・吉村正義京都産大
 [more] VLD2018-60 DC2018-46
pp.143-148
DC 2018-02-20
09:55
東京 機械振興会館 コントローラ拡大を用いた遷移故障テストパターン数削減のための演算器のテストレジスタ割当て法
竹内勇希武田 俊細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
VLSIのテストコストを削減するためには,テストパターン数を削減することが必要である.特に動的テスト圧縮の効率を高めるた... [more] DC2017-78
pp.7-12
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-06
13:50
熊本 くまもと県民交流館パレア IPコアの論理暗号化法の復号化鍵数の評価
橋立英実細川利典日大)・吉村正義京都産大
 [more] VLD2017-31 DC2017-37
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-06
15:20
熊本 くまもと県民交流館パレア コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法
武田 俊細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
近年, VLSIのテストコスト増大に伴い,DFT設計を用いたテストパターン数削減手法が重要視されている.特に, VLSI... [more] VLD2017-37 DC2017-43
pp.61-66
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
14:50
熊本 くまもと県民交流館パレア 製造過程でのトロイ回路混入を検知する設計手法
奥田良宣吉村正義大山浩平京都産大
 [more] VLD2017-53 DC2017-59
pp.145-150
DC 2017-02-21
14:25
東京 機械振興会館 到達不能状態を用いたSATベース順序回路のテスト不能故障判定法
二関森人細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大
スキャン設計回路は,ハードウェアオーバヘッドやテスト実行時間の増加が課題として挙げられている.上述の課題を解決するために... [more] DC2016-79
pp.29-34
DC 2016-02-17
14:50
東京 機械振興会館 テストパターン数削減のためのRTLテストポイント挿入法
大崎直也細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
VLSIのテストコスト削減のため,テストポイント挿入を用いたテストパターン数削減法が提案されている.ゲートレベルにおける... [more] DC2015-93
pp.43-48
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-03
13:45
長崎 長崎県勤労福祉会館 静的テスト圧縮のための多重目標故障テスト生成を用いたMバイNアルゴリズム
原 侑也山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大
 [more] VLD2015-69 DC2015-65
pp.207-212
DC 2015-06-16
14:10
東京 機械振興会館 地下3階2号室 BASTにおけるスキャンスライスに基づくテストデータ削減法
錦織 誠山崎紘史細川利典新井雅之日大)・吉村正義京都産大
LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと決定的テスト生成を組... [more] DC2015-16
pp.1-6
DC 2015-02-13
11:30
東京 機械振興会館 信号非遷移情報に基づくトロイ回路検出法
坊屋鋪知拓細川利典日大)・吉村正義京都産大
 [more] DC2014-81
pp.19-24
DC 2015-02-13
11:55
東京 機械振興会館 スキャンベース攻撃を考慮した暗号LSIのテスト手法
吉村正義京都産大)・西間木 淳細川利典日大
 [more] DC2014-82
pp.25-30
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-28
10:05
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) キャプチャ消費電力削減のためのテストポイント挿入法
高橋慶安山崎紘史細川利典日大)・吉村正義京都産大
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] VLD2014-99 DC2014-53
pp.185-190
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2014-11-28
10:30
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) キャプチャ消費電力削減のためのマルチサイクルキャプチャテスト生成法
山崎紘史西間木 淳細川利典日大)・吉村正義京都産大
 [more] VLD2014-100 DC2014-54
pp.191-196
DC 2014-02-10
10:55
東京 機械振興会館 SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法
高橋慶安山崎紘史細川利典日大)・吉村正義九大
ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている.キャプチャ時の高... [more] DC2013-83
pp.25-30
DC 2014-02-10
15:10
東京 機械振興会館 BASTにおけるシフトデータ量削減法
田中まりか山崎紘史細川利典日大)・吉村正義九大)・新井雅之日大
LSIのテスト品質を維持しながら,テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして,組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] DC2013-87
pp.49-54
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