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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 14:50 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法 ○邊見勇登・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  VLD2010-60 DC2010-27 |
近年，VLSI の高機能化，高集積化に伴い，放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている．特に近年の微細化と高速動... [more] | VLD2010-60 DC2010-27 pp.25-30 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 16:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 画像伸張回路を用いた組込みテスト生成に関する実験的考察 ○岩本由香・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2010-63 DC2010-30 |
近年，LSIテスト手法の１つとして組込み自己テストが利用されている．組込み自己テストでは，LSI内部にテストベクトル系列... [more] | VLD2010-63 DC2010-30 pp.43-48 |
| DC | 2010-06-25 14:00 |
東京 | 機械振興会館 | スイッチの機能を考慮した部分スルー可検査性に関する考察 ○岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-9 |
無閉路可検査順序回路は実用的にテスト容易な順序回路である． その1つのクラスとして部分スルー可検査順序回路があり，順序... [more] |
DC2010-9 pp.7-11 |
| DC | 2010-06-25 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | ロバストテスト可能データパスを指向した高位合成におけるバインディング法 ○吉川祐樹・丸谷 瞬・市原英行・井上智生（広島市大） DC2010-10 |
[more] | DC2010-10 pp.13-18 |
| DC | 2010-02-15 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | ディジタルフィルタにおける故障の許容性に関する考察 ○宮口拓己・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2009-75 |
本論文では，ディジタルフィルタを実現する順序回路に対する故障の許容性判定法を提案する．ディジタルフィルタの性質から誤りの... [more] | DC2009-75 pp.63-68 |
| VLD, CPSY, RECONF (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2010-01-27 14:05 |
神奈川 | 慶應義塾大学日吉キャンパス | SRAM型FPGAによる故障状況に適応可能な漸次縮退システムの実装 ○藤恵里司・野地亮志・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78 |
再構成可能デバイスを用いた高信頼システムとして，エラーを検出した際に正常な構成要素のみで再構成を行うことで， 構成前と... [more] |
VLD2009-93 CPSY2009-75 RECONF2009-78 pp.149-154 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 13:45 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト容易性と救済可能性を考慮した歩留まりモデルに関する考察 ○天野雄二郎・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2009-54 DC2009-41 |
LSI の微細化による過渡故障および永久故障の増加に伴い，LSIチップの歩留まり低下と市場不良の増加が問題となっている．... [more] | VLD2009-54 DC2009-41 pp.89-94 |
| DC | 2009-06-19 11:10 |
東京 | 機械振興会館 | 閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察 ○出水伸和・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2009-12 |
回路に故障が存在しても出力に重大な影響を与えない故障を許容故障という． 許容故障を考慮した16値論理に基づく閾値テスト... [more] |
DC2009-12 pp.13-18 |
| DC, CPSY (共催) |
2009-04-21 15:45 |
東京 | 首都大秋葉原サテライトキャンパス | 組込み自己テストにおけるテスト可能な応答圧縮器の設計について ○深澤祐樹・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2009-7 DC2009-7 |
組込み自己テスト(BIST)手法において，テスト生成器や応答圧縮器などのBIST回路が故障すると被テスト回路のテストを適... [more] | CPSY2009-7 DC2009-7 pp.37-42 |
| DC | 2009-02-16 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | 故障の許容性に基づく閾値テスト生成アルゴリズムの高速化 ○中島佑介・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2008-68 |
[more] | DC2008-68 pp.1-6 |
| DC | 2008-12-12 13:25 |
山口 | サンライフ萩 | 故障の許容性に基づく閾値テスト生成のための回路モデル ○周藤健太・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2008-60 |
近年のLSIの微細化，高性能化に伴いLSIの用途は幅広くなっており求められる信頼性も様々である．オーディオ，画像処理シス... [more] | DC2008-60 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 10:30 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［ポスター講演］テストデータ削減のための必須割当に基づくテストポイント挿入法 ○平本和子・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2008-80 DC2008-48 |
本研究では，テストポイント挿入によるテストデータ量の削減法を考案する．故障の中には，同じ信号線に異なる値の割当を必要とす... [more] | VLD2008-80 DC2008-48 pp.121-126 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-18 10:55 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ［ポスター講演］伝搬支配性に着目した遅延テストのためのハイブリッドスキャン設計 ○怒和友美・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2008-81 DC2008-49 |
遅延故障のテスト手法として，スキャンベースの遅延テストであるハイブリッド遅延テストが文献\cite{hybrid}で提案... [more] | VLD2008-81 DC2008-49 pp.127-132 |
| DC, CPSY (共催) |
2008-04-23 11:30 |
東京 | 東大・武田ホール | FPGAを用いた耐故障システムの信頼性と性能に関する考察 ○野地亮志・藤恵里司・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） CPSY2008-4 DC2008-4 |
FPGA（Field Programmable Gate Array）は今日広く利用されているVLSIであり， 回路構... [more] |
CPSY2008-4 DC2008-4 pp.19-24 |
| DC | 2008-02-08 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | 演算規則を用いたフォールトセキュアデータパスの合成について ○塩道寛貴・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） DC2007-75 |
平行誤り検出によるフォールトセキュアデータパスの合成法について考察する． 文献 [2] で示された低エイリアス確率の条... [more] |
DC2007-75 pp.51-56 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:55 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 無閉路可検査性に基づくテスト生成のための最適スルー木集合構成法 ○森永広介・岡 伸也・吉川祐樹・市原英行・井上智生（広島市大） VLD2007-72 DC2007-27 |
無閉路順序回路のクラスは$\tau^2$-boundedであり，実用的にテスト容易と考えられている\cite{tau1}... [more] | VLD2007-72 DC2007-27 pp.13-18 |
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