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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2006-06-22
15:30
広島 広島大学, 学士会館 Ni-FUSI/SiO(N)界面不純物効果とFUGE(Fully Germanided)電極の仕事関数決定要因の考察
土屋義規吉木昌彦木下敦寛小山正人古賀淳二西山 彰東芝
ゲート電極のメタル化技術(メタルゲート技術)における技術的課題である仕事関数(Φeff)制御について、我々の最近の検討結... [more] SDM2006-64
pp.125-130
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