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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2012-04-23
15:10
岩手 つなぎ温泉清温荘(岩手県) [招待講演]SSDシステム信頼性 ~ 大容量記憶装置を半導体で実現する課題 ~
助川 博東芝
SSDの記憶容量が増えていくと言うことはSSD装置の内部に搭載されるメモリチップ内の総回路数が巨大化することであり、故障... [more] ICD2012-4
pp.19-21
ICD 2012-04-23
17:00
岩手 つなぎ温泉清温荘(岩手県) [パネル討論]”復興”メモリと日本の明日に向かって
宮野信治半導体理工学研究センター)・佐々木 淳岩手県庁)・大石基之日経BP)・松永翔雲東北大)・竹内 健中大)・助川 博東芝
 [more] ICD2012-6
p.29
ICD 2011-04-18
10:50
兵庫 神戸大学 瀧川記念館 [招待講演]NAND Flashメモリ高性能化の技術動向とNAND Flashプロセスでの混載DRAM技術
高島大三郎野口充宏柴田 昇神田和重助川 博藤井秀壮東芝
本論文では、NAND Flashメモリの高性能化の技術動向と、標準NAND Flashプロセスを用いた混載DRAM技術に... [more] ICD2011-2
pp.7-12
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