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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2020-12-11
13:00
兵庫 洲本市文化体育館 (淡路島)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
勾配降下法を用いた回路遅延の劣化予測について
森 誠一郎権藤昌之三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大
(ご登録済みです.開催日以降に掲載されます) [more]
DC 2019-12-20
16:30
和歌山 南紀くろしお商工会 長期信頼性試験におけるオンチップ遅延測定による劣化観測
三宅庸資加藤隆明梶原誠司九工大)・麻生正雄二見治司松永恵士シスウェーブ)・三浦幸也首都大東京DC2019-85
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている.回路の劣化による遅延の増加を検出するには,フィールドで... [more] DC2019-85
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2018-12-06
13:25
広島 サテライトキャンパスひろしま 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について
加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2018-57 DC2018-43
スキャンベースの論理BISTでは,過度のテスト時消費電力が問題となる.一方,電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] VLD2018-57 DC2018-43
pp.125-130
VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB
(連催)
CPSY, IPSJ-ARC
(連催)
CPM, ICD, IE
(共催)
RECONF
(併催) [詳細]
2017-11-07
09:00
熊本 くまもと県民交流館パレア スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について
大島繁之加藤隆明九工大)・王 森レイ愛媛大)・佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2017-41 DC2017-47
論理BISTにおける故障検出率向上のために,マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] VLD2017-41 DC2017-47
pp.85-90
DC 2015-12-18
13:20
新潟 クリエート村上(村上市) デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について
三宅庸資加藤隆明糸永卓矢佐藤康夫梶原誠司九工大DC2015-74
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている.このデジタルモニタは,一般的なアナログ回路によるモ... [more] DC2015-74
pp.5-10
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2013-11-29
09:20
鹿児島 鹿児島県文化センター 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について
加藤隆明喜納 猛三宅庸資佐藤康夫梶原誠司九工大VLD2013-93 DC2013-59
スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている.しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異... [more] VLD2013-93 DC2013-59
pp.233-238
DC 2012-06-22
15:45
東京 機械振興会館 論理BISTの電力低減手法と評価
佐藤康夫王 森レイ加藤隆明宮瀬紘平梶原誠司九工大DC2012-14
論理BISTのテスト時電力は通常のスキャンテストよりも高く電力低減が必要であるが,発生パターンのランダム性から,その制御... [more] DC2012-14
pp.33-38
DC 2012-02-13
11:55
東京 機械振興会館 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について
加藤隆明王 森レイ宮瀬紘平佐藤康夫梶原誠司九工大/JSTDC2011-80
スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である.本研究では,スキャンBISTに... [more] DC2011-80
pp.25-29
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