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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| MBE, NC (併催) |
2017-12-16 15:45 |
愛知 | 名古屋大学 | 小型原子磁気センサモジュールを用いた遠隔磁気粒子イメージング ～ 励磁磁場強度最適化の検討 ～ ○加藤健太郎・笈田武範・伊藤陽介・小林哲生（京大）  MBE2017-64 |
近年新しく提案された磁気粒子イメージング(MPI)は，磁性ナノ粒子(MNP)と呼ばれるトレーサの空間的分布を画像化するイ... [more] | MBE2017-64 pp.61-66 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 15:20 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | 時系列特徴を用いたチップ内データ転送エラー訂正手法とその可能性 ○加藤健太郎・夏井雅典・羽生貴弘（東北大） CPM2017-85 ICD2017-44 IE2017-70 |
微細化技術の進展に伴い，集積回路の信頼性確保が一層重要視されている．本稿では，従来型のデータ表現に基づくボトムアップ手法... [more] | CPM2017-85 ICD2017-44 IE2017-70 pp.33-38 |
| CPSY, DC, IPSJ-ARC (連催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-05-24 10:15 |
北海道 | 登別温泉第一滝本館 | 劣化検出のための短周期テストパタンを用いた決定論的パス遅延測定法 ○加藤健太郎・森 祐海（鶴岡高専） CPSY2017-12 DC2017-12 |
短周期テストパタンは決め打ちしたパスを短い時間間隔で連続して活性化することができる．この特性を用いて，可変クロックを用い... [more] | CPSY2017-12 DC2017-12 pp.69-74 |
| MBE, NC (併催) |
2017-03-14 11:15 |
東京 | 機械振興会館 | 光ポンピング原子磁気センサを用いた磁気粒子イメージングに向けた磁気信号の遠隔計測 ○加藤健太郎・笈田武範・伊藤陽介・小林哲生（京大） MBE2016-95 |
[more] | MBE2016-95 pp.65-70 |
| ET | 2016-11-18 15:45 |
静岡 | プラザ ヴェルデ | GPS,E-メール,クリック操作を用いた半自動出欠管理システム ○加藤健太郎・帯谷主馬・佐藤壮真（鶴岡高専） ET2016-64 |
本研究ではGPS, E-メール, クリック操作を用いた半自動出欠管理システムを提案する．提案システムはクライアントとして... [more] | ET2016-64 pp.53-56 |
| DC | 2016-06-20 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | 部分並列時間領域リードソロモン展開器 ○加藤健太郎（鶴岡高専）・Somsak Choomchuay（KMITL） DC2016-15 |
本研究では復号に要する時間の短縮のための部分並列時間領域リードソロモン(RS) 展開器の提案を行う． 提案する展開器に... [more] |
DC2016-15 pp.31-36 |
| DC | 2013-12-13 13:50 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | TDCによる高速オンチップ遅延時間測定を用いた高品質遅延故障テストセット構成法 ○加藤健太郎（鶴岡高専）・小林春夫（群馬大） DC2013-70 |
汎用プロセッサ，システムLSIといった高速かつ低消費電力なディジタルLSIは，今日のあらゆる分野において必要不可欠である... [more] | DC2013-70 pp.13-16 |
| DC | 2013-06-21 16:00 |
東京 | 機械振興会館 | バウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法 ○加藤健太郎（鶴岡高専） DC2013-14 |
本研究ではバウンダリスキャンと組み込み再構成可能ハードウェアを用いたSOCのオンラインインターコネクトテスト法を提案する... [more] | DC2013-14 pp.25-29 |
| DC, CPSY (共催) |
2013-04-26 16:40 |
東京 | 首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス | 隣接テスト機構を用いたオンチップ遅延測定法 ○加藤健太郎（鶴岡高専） CPSY2013-8 DC2013-8 |
本研究では隣接テスト機構を用いたTime to Digital Converter (TDC) によるオンチップ遅延測定... [more] | CPSY2013-8 DC2013-8 pp.43-48 |
| DC | 2012-06-22 13:25 |
東京 | 機械振興会館 | 組み込み遅延測定回路を用いた時分割オンチップパス遅延測定のための入力系列データ量削減の1手法 ○加藤健太郎（鶴岡高専） DC2012-10 |
時分割遅延測定法は，オンチップ遅延測定の測定時間短縮に有効である．しかしながらこの手法はスキャン入力系列以外に測定パスを... [more] | DC2012-10 pp.7-13 |
| DC | 2010-02-15 13:20 |
東京 | 機械振興会館 | 差分による遅延測定法の実行時間と面積の削減 ○田辺 融・湊 浩久・加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） DC2009-71 |
近年のVLSIにおける微細化や高集積化，高速化に伴い，回路内の信号伝播時間がわずかに変化する微小遅延欠陥が問題視されてい... [more] | DC2009-71 pp.39-44 |
| EMCJ, MW, IEE-MAG (共催) |
2009-10-22 16:30 |
岩手 | 岩手大学・八幡平ロイヤルホテル | 直接給電法を用いた体内完全埋込型TES素子の構成と試作について ○加藤健太郎・木幡陽介・佐藤文博・松木英敏・佐藤忠邦・関 和則・半田康延（東北大） |
神経系に対して何らかの方法により刺激を加え，生体の神経による制御を正常に近づける医工学技術を総称してニューロバイオニクス... [more] | EMCJ2009-54 MW2009-103 pp.59-64 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) CPSY, RECONF, IPSJ-ARC (併催) [詳細] |
2007-11-20 10:05 |
福岡 | 北九州国際会議場 | 遅延故障テスト容易化FF方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法 ○加藤健太郎・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） VLD2007-70 DC2007-25 |
本論文では，遅延故障テスト容易化フリップフロップ( 以下FF と略記) 方式の下での縮退故障テストデータ圧縮法を提案する... [more] | VLD2007-70 DC2007-25 pp.1-6 |
| CPSY, DC (共催) |
2006-04-14 10:40 |
東京 | 東大武田ホール | 粗粒度動的再構成可能デバイスのPE部テストのためのDFT ○加藤健太郎・姚 玉敏・難波一輝・伊藤秀男（千葉大） |
本論文ではマルチコンテキストベース動的再構成可能デバイスのPE（Processing Element）部のBIST（組み... [more] | CPSY2006-4 DC2006-4 pp.19-24 |
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