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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2018-12-14 13:00 |
沖縄 | 沖縄県立宮古青少年の家 | FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）  DC2018-58 |
最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．劣化現象として回路遅延の増加が知られているが，劣化によ... [more] | DC2018-58 pp.1-6 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2018-12-06 13:25 |
広島 | サテライトキャンパスひろしま | 論理BISTのテスト電力制御手法とTEG評価について ○加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2018-57 DC2018-43 |
スキャンベースの論理BISTでは，過度のテスト時消費電力が問題となる．一方，電力削減は故障検出率向上及びテスト時間削減と... [more] | VLD2018-57 DC2018-43 pp.125-130 |
| DC | 2017-12-15 15:30 |
秋田 | 放送大学秋田学習センター | FPGAの自己テストのためのTDCを用いたテストクロック観測手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2017-75 |
FPGAの自己テストによるフィールド高信頼化のため，論理BISTと可変なテストクロックを組み合わせた遅延測定手法が提案さ... [more] | DC2017-75 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB (連催) CPSY, IPSJ-ARC (連催) CPM, ICD, IE (共催) RECONF (併催) [詳細] |
2017-11-07 09:00 |
熊本 | くまもと県民交流館パレア | スキャンベース論理BISTにおけるマルチサイクルテストの中間観測FF選出手法について ○大島繁之・加藤隆明（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2017-41 DC2017-47 |
論理BISTにおける故障検出率向上のために，マルチサイクルテストにおけるフリップフロップ(FF)値の中間観測手法が提案さ... [more] | VLD2017-41 DC2017-47 pp.85-90 |
| CPSY, IPSJ-ARC (連催) DC (併催) [詳細] |
2017-07-26 16:15 |
秋田 | 秋田アトリオンビル（秋田） | デジタル温度電圧センサにおける温度2点補正手法の検討 ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2017-19 |
VLSI稼働時のチップの温度と電圧を測定するため，リングオシレータ（RO: Ring Oscillator）を利用したデ... [more] | DC2017-19 pp.19-24 |
| DC | 2016-12-16 13:00 |
山形 | 酒田市 総合文化センター(山形県酒田市) | High Reliable Memory Architecture with Adaptive Combination of Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC Gian Mayuga・Yuta Yamato（NAIST）・Yasuo Sato（KIT）・○Michiko Inoue（NAIST） DC2016-64 |
[more] | DC2016-64 pp.1-6 |
| DC | 2015-12-18 13:20 |
新潟 | クリエート村上(村上市) | デジタルモニタを用いたチップ内温度電圧変動の測定について ○三宅庸資・加藤隆明・糸永卓矢・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2015-74 |
VLSIの稼働時の温度と電圧を測定するデジタルモニタが提案されている．このデジタルモニタは，一般的なアナログ回路によるモ... [more] | DC2015-74 pp.5-10 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2015-12-03 10:50 |
長崎 | 長崎県勤労福祉会館 | FPGAのオンチップ遅延測定における温度影響補正の検討 ○喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2015-63 DC2015-59 |
フィールドでVLSIの遅延テストするための手段として，チップ上に搭載したユーザ論理回路のパス遅延を可変なテストタイミング... [more] | VLD2015-63 DC2015-59 pp.165-170 |
| DC | 2014-12-19 13:00 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 ○佐藤康夫・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2014-67 |
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが，NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問... [more] | DC2014-67 pp.1-6 |
| DC | 2014-12-19 13:25 |
富山 | 高岡テクノドーム | FPGAのリングオシレータを利用した温度モニタ ○三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-68 |
VLSI動作時の信頼性確保に，チップへの温度モニタの搭載が有効であり，リングオシレータを用いてその周波数から温度測定する... [more] | DC2014-68 pp.7-12 |
| DC | 2014-12-19 14:15 |
富山 | 高岡テクノドーム | Reliability of ECC-based Memory Architectures with Online Self-repair Capabilities ○Gian Mayuga・Yuta Yamato・Tomokazu Yoneda（NAIST）・Yasuo Sato（Kyutech）・Michiko Inoue（NAIST） DC2014-70 |
[more] | DC2014-70 pp.19-24 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2014-11-28 14:45 |
大分 | ビーコンプラザ（別府国際コンベンションセンター） | FPGAにおけるオンチップ遅延測定について ○安部賢太朗・三宅庸資・梶原誠司・佐藤康夫（九工大） VLD2014-109 DC2014-63 |
本論文では，FPGAに実装された論理回路を対象としたオンチップ遅延測定について述べる．半導体技術の進歩により，微細化，高... [more] | VLD2014-109 DC2014-63 pp.245-250 |
| DC | 2014-06-20 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 低電力BIST手法におけるキャプチャ電力のTEG評価 ○西田敏也（九工大）・王 森レイ（愛媛大）・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2014-13 |
スキャンベーステストのキャプチャ時の瞬間的な電流による電圧降下は，テスト対象パスの遅延増加等をもたらし，テスト精度低下の... [more] | DC2014-13 pp.21-26 |
| DC | 2013-12-13 13:25 |
石川 | 和倉温泉観光会館 | FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 ○佐藤康夫・松浦宗寛・荒川 等・三宅庸資・梶原誠司（九工大） DC2013-69 |
FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する．FPGAのアプリケーション依存テスト... [more] | DC2013-69 pp.7-12 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-28 13:45 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | FPGAにおける複数の周波数特性を実現するためのリングオシレータ構成法の検討 ○三宅庸資・門田正文・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-84 DC2013-50 |
FPGAは高信頼性システムを含めたさまざまな組込みシステムに利用されており，信頼性の確保が重要になっている．VLSIの信... [more] | VLD2013-84 DC2013-50 pp.165-170 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 08:30 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討 ○野々山 聡・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・中村芳行（ルネサス エレクトロニクス） VLD2013-91 DC2013-57 |
[more] | VLD2013-91 DC2013-57 pp.221-226 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2013-11-29 09:20 |
鹿児島 | 鹿児島県文化センター | 論理BISTにおけるスキャンイン電力制御回路のTEG評価について ○加藤隆明・喜納 猛・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大） VLD2013-93 DC2013-59 |
スキャンベースの論理BISTでは高いテスト時電力の低減が課題となっている．しかしアプリケーション毎にその電力低減目標は異... [more] | VLD2013-93 DC2013-59 pp.233-238 |
| DC | 2013-06-21 14:45 |
東京 | 機械振興会館 | フィールドにおけるLSI劣化テストの可能性に関する一考察 ○佐藤康夫・梶原誠司（九工大） DC2013-12 |
近年の電子機器に組み込まれたLSIは極めて高い信頼性を要求されている．しかしBTI（Bias Temperature I... [more] | DC2013-12 pp.13-18 |
| DC | 2013-02-13 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | モニタ回路による製造バラツキを考慮した温度・電圧推定手法 ○三宅庸資・津森 渉・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） DC2012-89 |
VLSIの微細化に伴い，劣化による回路遅延の増加が問題となっている．劣化による遅延の増加を検出するにはフィールドテストで... [more] | DC2012-89 pp.55-60 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2012-11-28 14:30 |
福岡 | 九州大学百年講堂 | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 ○津森 渉・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京） VLD2012-101 DC2012-67 |
システムの信頼性の確保のために，フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある．... [more] | VLD2012-101 DC2012-67 pp.243-248 |
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