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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
RCC, MICT
(共催)
2015-05-28
15:20
東京 機械振興会館 通信装置向けFPGAのソフトエラー高速リカバリ技術
新保健一鳥羽忠信上薗 巧伊部英史日立
通信インフラを流れるデータトラフィック量の急増に伴い,高速・大容量の通信装置開発が求められている.通信装置には設計の柔軟... [more] RCC2015-9 MICT2015-9
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-02
13:50
高知 高知市文化プラザ [招待講演]最新半導体デバイスの環境中性子線エラー ~ デザインルール22nmへのインパクトと対策 ~
伊部英史新保健一谷口 斉鳥羽忠信日立
メモリ、論理ゲートなど半導体デバイスの環境中性子線によるエラーのメカニズム、各種エラーモードの現状と22nmデザインルー... [more] CPM2009-139 ICD2009-68
pp.29-34
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-02
16:00
高知 高知市文化プラザ [パネル討論]EMC回路設計とシステムLSIの実装設計 ~ 実装サイドからチップ設計への提言 ~
大坂英樹日立)・浅井秀樹静岡大)・伊部英史日立)・齊藤義行パナソニック)・原田高志NEC)・高橋成正日本IBM
高速化、高機能化するシステムLSIを目標通り動かし、性能を最大に引き出すためには、そのチップの実装状態が決定的に重要にな... [more] CPM2009-142 ICD2009-71
pp.47-49
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
10:00
高知 高知市文化プラザ 情報システム装置の中性子照射試験とフィールドエラーとの相関
新保健一鳥羽忠信伊部英史西井浩士日立
中性子照射試験により情報システム装置のソフトエラー耐性評価を行った.メモリ構成の異なる2台の装置のソフトエラー比について... [more] CPM2009-143 ICD2009-72
pp.51-55
ICD, SDM
(共催)
2008-07-17
15:05
東京 機械振興会館 ロジックプロセス互換型SESOメモリセルによる低ソフトエラー(0.1FIT/Mb)、高速動作(100MHz)、長リテンション(100ms)の実現
亀代典史渡部隆夫石井智之峰 利之日立)・佐野聡明ルネサス北日本セミコンダクタ)・伊部英史秋山 悟日立)・柳沢一正一法師隆志岩松俊明高橋保彦ルネサステクノロジ
SESO (Single Electron Shut-off)トランジスタのプロセスを見直し、ロジックプロセス互換性を実... [more] SDM2008-136 ICD2008-46
pp.47-52
DC, CPSY
(共催)
2008-04-23
15:00
東京 東大・武田ホール 電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策
伊部英史日立
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が2000年前後から顕在
化しはじめ、各種... [more]
CPSY2008-7 DC2008-7
pp.37-42
ICD 2008-04-18
11:15
東京 機械振興会館 [招待講演]電子システムの環境中性子線起因のエラーの現状と対策 ~ マルチノードアップセット問題の対応 ~
伊部英史日立
地上における民生用半導体デバイスのソフトエラーの主因として環境中性子線の影響が2000年前後から顕在化しはじめ、各種の問... [more] ICD2008-10
pp.51-56
ICD, ITE-CE
(共催)
2006-12-15
10:15
広島 (財)広島産業振興機構 広島県情報プラザ 半導体デバイス微細化に伴う中性子起因のマルチセルアップセットの多様化
伊部英史日立)・S. ChungS. Wenシスコシステムズ)・山口裕功矢作保夫日立)・亀山英明山本茂久秋岡隆志ルネサステクノロジ
 [more] ICD2006-161
pp.103-108
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