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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD, HWS
(共催) [詳細]
2020-10-26
14:55
ONLINE オンライン開催 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み(Ⅱ)
坂根広史川村信一今福健太郎堀 洋平永田 真林 優一松本 勉産総研HWS2020-35 ICD2020-24
情報の窃取や不正改変を目的として半導体チップ上に挿入されるハードウェアトロ―ジャンの脅威が問題となりつつある.本稿では,... [more] HWS2020-35 ICD2020-24
pp.59-64
HWS, ICD
(共催) [詳細]
2019-11-01
16:50
大阪 DNPなんばSSビル 半導体チップのハードウェアトロージャンに対する物理レベルの取り組み(I)
川村信一今福健太郎坂根広史堀 洋平産総研)・永田 真産総研/神戸大)・林 優一産総研/奈良先端大)・松本 勉産総研/横浜国大HWS2019-65 ICD2019-26
半導体チップ上や回路基板などに本来あってはならないハードウェア回路が挿入される脅威が問題となりつつある. 本稿ではそのよ... [more] HWS2019-65 ICD2019-26
pp.47-52
ISEC, IPSJ-CSEC, SITE
(共催)
2005-07-22
13:00
岩手 岩手県立大学 Y-00プロトコルが古典的なストリーム暗号と等価であることについて
今福健太郎産総研)・今井秀樹産総研/東大)・西岡 毅長谷川俊夫石塚裕一三菱電機
 [more] ISEC2005-54
pp.81-87
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