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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2011-05-13 13:30 |
高知 | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 | ［招待講演］レーザSQUID顕微鏡，レーザテラヘルツ放射顕微鏡，関連シミュレーションの統合的／選択的利用 ～ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ～ ○二川 清（阪大）・山下将嗣（理研）・松本 徹（浜松ホトニクス）・三浦克介・御堂義博・中前幸治（阪大）  R2011-8 |
[more] | R2011-8 pp.1-6 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 14:30 |
東京 | 機械振興会館 | 作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザＳＱＵＩＤ顕微鏡による観測 ○酒井哲哉・二川 清（NECエレクトロニクス） |
[more] | CPM2004-158 ICD2004-203 pp.19-24 |
| ICD, CPM (共催) |
2005-01-27 16:15 |
東京 | 機械振興会館 | レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 ○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行（理研）・二川 清（NECエレクトロニクス）・斗内政吉（阪大） |
[more] | CPM2004-160 ICD2004-205 pp.31-34 |
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