お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MW, ED
(共催)
2019-01-18
11:05
東京 日立中研 高温信頼度試験におけるGaN-HEMTのパルスI-V特性劣化メカニズムの解析
舘野泰範住友電工)・四田泰代住友電工デバイス・イノベーション)・山本 洋中林隆志住友電工ED2018-82 MW2018-149
高温保存試験におけるGaN-HEMTのパルスI-V特性変化の物理的メカニズムについて解析を行った. GaN-HEMTに高... [more] ED2018-82 MW2018-149
pp.71-74
OPE, LQE
(共催)
2014-06-20
15:15
東京 機械振興会館 リニアドライバIC内蔵の224Gb/s DP-16QAM小型変調器モジュール開発
巽 泰三板橋直樹五十川知子河野直哉関 守弘田中啓二山路和宏藤村 康上坂勝己中林隆志小路 元荻田省一住友電工OPE2014-18 LQE2014-23
1波長あたり100 Gb/s以上の大容量伝送を実現する方式として, 多値変調方式を活用したデジタルコヒーレント伝送技術が... [more] OPE2014-18 LQE2014-23
pp.27-30
OPE, CPM, R
(共催)
2009-04-17
13:40
東京 機械振興会館 AlGaInAsレーザのESD耐性
市川弘之福田智恵松川真治浜田耕太郎生駒暢之中林隆志住友電工R2009-2 CPM2009-2 OPE2009-2
高速変調、高温駆動に優れたAlGaInAsレーザではESD耐圧の報告がこれまでなかった。そこで今回我々は、AlGaInA... [more] R2009-2 CPM2009-2 OPE2009-2
pp.7-10
CPM, OPE, R
(共催)
2007-04-20
15:45
東京 機械振興会館 GaInAsP/InPレーザの劣化解析技術
市川弘之伊東雅史福田智恵浜田耕太郎山口 章中林隆志住友電工R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6
我々は、光通信システムの光源に用いられるGaInAsP/InPレーザについて、信頼性向上のための劣化解析に取り組んできた... [more] R2007-6 CPM2007-6 OPE2007-6
pp.29-33
OPE, R, CPM
(共催)
2005-04-22
13:50
東京 機械振興会館 InGaAsP/InPレーザの劣化解析
浜田耕太郎市川弘之松川真治中林隆志山口 章加藤隆志住友電工
 [more] R2005-3 CPM2005-3 OPE2005-3
pp.11-15
 5件中 1~5件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会