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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
VLD, DC, CPSY, RECONF, CPM, ICD, IE, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2017-11-06
14:55
熊本 くまもと県民交流館パレア 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法
柚留木大地大竹哲史大分大)・中村芳行ルネサス エレクトロニクスVLD2017-36 DC2017-42
今日,半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる.
LSIの品質を保ちつつ,テストコスト... [more]
VLD2017-36 DC2017-42
pp.55-60
DC 2017-02-21
12:00
東京 機械振興会館 機械学習を用いたフェールチップ判別の性能向上に関する検討
柚留木大地大竹哲史大分大)・中村芳行ルネサス システムデザインDC2016-77
今日,半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる.
LSIの品質を保ちつつ,テストコスト... [more]
DC2016-77
pp.17-22
CPSY, DC, IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2016-03-25
15:45
長崎 福江文化会館・勤労福祉センター LSIテストにおけるフェイル予測のためのばらつき補正に関する検討
小河 亮奈良先端大)・中村芳行ルネサス セミコンダクタパッケージ&テストソリューションズ)・井上美智子奈良先端大CPSY2015-158 DC2015-112
近年,データマイニングを用いたテストコスト削減手法が注目を集めている.LSIは多数のテスト工程を経て市場に出荷される.こ... [more] CPSY2015-158 DC2015-112
pp.271-276
VLD, DC, IPSJ-SLDM, CPSY, RECONF, ICD, CPM
(併催) [詳細]
2014-11-28
15:10
大分 ビーコンプラザ(別府国際コンベンションセンター) クラスタ分析を用いた教師あり学習によるLSIのバーイン不良予測の一手法
鉄川彰吾宮本誠也大竹哲史大分大)・中村芳行ルネサス セミコンダクタ パッケージ&テスト ソリューションズVLD2014-110 DC2014-64
LSIの製造テスト工程には,ウェハテスト,パッケージテスト,バーインテストなどがある.バーインテストには特に費用がかかる... [more] VLD2014-110 DC2014-64
pp.251-256
VLD, DC, IPSJ-SLDM, CPSY, RECONF, ICD, CPM
(併催) [詳細]
2013-11-29
08:30
鹿児島 鹿児島県文化センター データマイニング手法によるバーンインテスト結果予測の検討
野々山 聡佐藤康夫梶原誠司九工大)・中村芳行ルネサス エレクトロニクスVLD2013-91 DC2013-57
 [more] VLD2013-91 DC2013-57
pp.221-226
DC 2010-02-15
09:00
東京 機械振興会館 統計的手法による微小Iddq変動外れ値の検出
中村芳行田中正史NECエレクトロニクスDC2009-65
プロセスの微細化に伴いIddqのばらつきが増大しており、Iddqテストが困難になっている。このため、Iddqの変動を観測... [more] DC2009-65
pp.1-5
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