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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2019-02-07
13:50
東京 東京大学/本郷 工学部4号館 42講義室 [招待講演]めっき銅薄膜配線の機械特性とEM耐性の結晶粒界品質依存性
罗 轶凡名越優太郎水野涼太鈴木 研・○三浦英生東北大SDM2018-94
 [more] SDM2018-94
pp.15-18
SDM 2018-11-08
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]原子配列の秩序性に基づく多結晶金属材料強度評価技術の開発とめっき銅薄膜への応用
鈴木 研羅 軼凡三浦英生東北大SDM2018-68
 [more] SDM2018-68
pp.23-26
SDM 2015-03-02
14:55
東京 機械振興会館 [招待講演]めっき銅薄膜配線マイグレーション耐性に及ぼす微細組織の影響
鈴木 研加藤武瑠三浦英生東北大SDM2014-168
電解めっき法で作製した銅薄膜配線には,バルク材料では認められない柱状組織や結晶欠陥密度の高い疎な粒界といった特有の微細組... [more] SDM2014-168
pp.33-38
SDM 2012-11-16
13:50
東京 機械振興会館 カーボンナノチューブやグラフェンシートの電子バンド構造に及ぼす三次元ひずみ場の影響解析
鈴木 研大西正人三浦英生東北大SDM2012-110
カーボンナノチューブ(CNT)は,その発見以来,電子デバイスや各種センサへの応用が期待され様々な研究が行われている.例え... [more] SDM2012-110
pp.59-61
SDM 2009-11-13
15:25
東京 機械振興会館 High-k/Metal-gate界面健全性に及ぼす点欠陥と格子ひずみの相互作用の原子レベルシミュレーション
鈴木 研伊藤雄太井上達也三浦英生東北大)・吉川英樹小林啓介物質・材料研究機構)・寒川誠二東北大SDM2009-149
原子・分子レベルでアプローチ可能な方法論として計算化学的手法に着目し,High-k絶縁膜と金属電極界面の健全性に及ぼす点... [more] SDM2009-149
pp.79-84
ICD, CPM
(共催)
2007-01-18
16:35
東京 機械振興会館 三次元フリップチップ実装構造における薄化チップの局所変形と残留応力
三浦英生上田啓貴佐藤祐規東北大
 [more] CPM2006-140 ICD2006-182
pp.67-72
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