お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2020年10月開催~)
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 5件中 1~5件目  /   
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R 2014-11-20
13:45
大阪 大阪中央電気倶楽部 マルコフ連鎖モデルによる半導体素子劣化・寿命予測
桃田 快遠藤幸一御堂義博三浦克介中前幸治阪大R2014-61
個別の半導体デバイスの使用経過時間中の特性がモニターできる仮定の下で,得られた特性からデバイスの劣化・寿命を予測する手法... [more] R2014-61
pp.1-5
R 2011-05-13
13:30
高知 高知市文化プラザ「かるぽーと」 [招待講演]レーザSQUID顕微鏡,レーザテラヘルツ放射顕微鏡,関連シミュレーションの統合的/選択的利用 ~ 電気的非接続でのLSIチップ故障箇所絞り込み手法 ~
二川 清阪大)・山下将嗣理研)・松本 徹浜松ホトニクス)・三浦克介御堂義博中前幸治阪大R2011-8
 [more] R2011-8
pp.1-6
R 2011-05-13
16:25
高知 高知市文化プラザ「かるぽーと」 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価
三浦克介野津孝行中前幸治阪大R2011-13
MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセル... [more] R2011-13
pp.29-34
ICD, CPM
(共催)
2007-01-19
11:45
東京 機械振興会館 抽出レイアウト情報を用いたSoCマクロブロックの故障診断手法
三浦克介中前幸治阪大
レイアウト抽出ネットリストを用いたSoCマクロブロックの故障診断手法を提案している。設計時のネットリストが入手できないハ... [more] CPM2006-147 ICD2006-189
pp.103-108
ICD, CPM
(共催)
2005-01-28
14:30
東京 機械振興会館 機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法
三浦克介中前幸治藤岡 弘阪大
 [more] CPM2004-170 ICD2004-215
pp.47-51
 5件中 1~5件目  /   
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会