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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
DC 2016-12-16
13:00
山形 酒田市 総合文化センター(山形県酒田市) High Reliable Memory Architecture with Adaptive Combination of Aging-Aware In-Field Self-Repair and ECC
Gian MayugaYuta YamatoNAIST)・Yasuo SatoKIT)・○Michiko InoueNAIST
 [more] DC2016-64
pp.1-6
DC 2016-02-17
11:55
東京 機械振興会館 ゼロ遅延論理シミュレーションに基づく遅延故障インジェクション環境
川崎真司米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
故障インジェクションとは,故障が発生した回路の振る舞いを再現するための技術であり,ソフトエラーの影響解析などの目的で使用... [more] DC2015-90
pp.25-30
DC 2016-02-17
14:25
東京 機械振興会館 重み付きランダムパターンとリシードを組み合わせた組込み自己テスト手法
里中沙矢香米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
テストコスト削減の一手法として組込み自己テスト(Built-In Self Test, BIST) が幅広く用いられてい... [more] DC2015-92
pp.37-42
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2015-12-01
13:50
長崎 長崎県勤労福祉会館 メモリの隣接パタン依存故障テストに対するバックグラウンド列の生成
上岡真也米田友和大和勇太井上美智子奈良先端大
メモリセルの隣接パタン依存故障 (Neighborhoodpatternsensitivefaults : NPSF) ... [more] VLD2015-40 DC2015-36
pp.19-24
DC 2014-12-19
14:15
富山 高岡テクノドーム Reliability of ECC-based Memory Architectures with Online Self-repair Capabilities
Gian MayugaYuta YamatoTomokazu YonedaNAIST)・Yasuo SatoKyutech)・Michiko InoueNAIST
 [more] DC2014-70
pp.19-24
DC 2013-12-13
13:00
石川 和倉温泉観光会館 FPGA向けアプリケーション依存テストのための効率的なスキャンBISTアーキテクチャ
伊藤渓太米田友和大和勇太畠山一実井上美智子奈良先端大
本論文では,FPGA上のアプリケーション回路をテスト対象とした効率の良いスキャンBISTアーキテクチャを提案する.
提... [more]
DC2013-68
pp.1-6
DC 2013-02-13
16:40
東京 機械振興会館 フィールドでの組込み自己テストにおける不定値処理に関するデータ量の削減手法
吉見優太奈良先端大)・畠山一実大和勇太米田友和井上美智子奈良先端大/JST
圧縮テストを行う際に発生する不定値は圧縮効率やテスト品質に悪影響を及ぼすため,その処理手法について盛んに研究が行われてい... [more] DC2012-90
pp.61-66
DC 2012-06-22
16:10
東京 機械振興会館 On Per-Cell Dynamic IR-Drop Estimation in At-Speed Scan Testing
Yuta YamatoTomokazu YonedaKazumi HatayamaMichiko InoueNAIST
 [more] DC2012-15
pp.39-44
DC 2011-06-24
16:20
東京 機械振興会館 テストベクトル変換手法を用いた低消費電力LOS 実速度テスト
宮瀬紘平内之段裕太榎元和成九工大)・大和勇太奈良先端大)・温 暁青梶原誠司九工大)・Fangmei WuLuigi DililloAlberto BosioPatrick GirardArnaud VerazelLirmm
LSIの実速度テスト方式の一つであるLOS方式に対する低消費電力テスト手法を提案する.本稿では,X判定技術とX割当技術を... [more] DC2011-13
pp.29-34
DC 2011-02-14
10:25
東京 機械振興会館 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定
坂井僚太宮瀬紘平温 暁青九工大)・麻生正雄古川 寛ルネサス マイクロシステム)・大和勇太福岡県産業・科学技術振興財団)・梶原誠司九工大
実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過度な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の... [more] DC2010-60
pp.7-12
DC 2010-02-15
15:40
東京 機械振興会館 部分X分解によるX故障モデルを用いた故障診断手法の高速化
宮瀬紘平九工大)・中村優介パナソニックCCソフト)・大和勇太温 暁青梶原誠司九工大
LSIの微細化,高速化は欠陥の振る舞いを複雑・多様にし,故障箇所,故障の原因の特定を困難なものとしている.X故障モデルは... [more] DC2009-76
pp.69-74
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
14:05
高知 高知市文化プラザ 信号値遷移削減のためのドントケア判定率の最適化に関する研究
別府 厳九工大)・宮瀬紘平九工大/JST)・大和勇太九工大)・温 暁青梶原誠司九工大/JST
LSIのテストにおけるスキャンシフト動作,キャプチャ動作時の消費電力やIR-dropの増加は,解決すべき重要な課題である... [more] VLD2009-55 DC2009-42
pp.95-100
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2008-11-17
13:50
福岡 北九州学術研究都市 実速度スキャンテストにおけるキャプチャセーフテスト生成手法について
高嶋敦之大和勇太古川 寛宮瀬紘平温 暁青梶原誠司九工大
スキャンテストのキャプチャモードにおいて,回路内部での過度のラウンチ信号変化が原因となってタイミングエラーを引き起こす可... [more] VLD2008-62 DC2008-30
pp.13-18
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(共催)
CPSY, RECONF, IPSJ-ARC
(併催) [詳細]
2007-11-20
10:30
福岡 北九州国際会議場 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について
福澤友晶宮瀬紘平大和勇太古川 寛温 暁青梶原誠司九工大
実速度スキャンテストにおいて,キャプチャ時に多くのフリップフロップで論理値の遷移が起こると過度のIRドロップが生じる可能... [more] VLD2007-71 DC2007-26
pp.7-12
R 2007-09-14
13:40
高知 高知工科大学 LSI回路のX故障による Per-Test 故障診断手法の拡張について
中村優介大和勇太温 暁青宮瀬紘平梶原誠司九工大)・K. K. サルージャウィスコンシン大
LSIの微細化・高速化により,欠陥の振舞いは複雑化し,複数の欠陥が回路内に生じることが増えてきた.このような回路を精確に... [more] R2007-33
pp.23-28
ICD, CPM
(共催)
2007-01-19
13:00
東京 機械振興会館 低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
塔ノ上義章温 暁青梶原誠司九工大)・宮瀬紘平JST)・鈴木達也大和勇太九工大
スキャンテストにおいて,キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性... [more] CPM2006-148 ICD2006-190
pp.109-114
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