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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| SDM | 2008-06-10 13:45 |
東京 | 東京大学(生産研 An棟) | MONOS型メモリの電荷蓄積機構の理論的研究 ○白石賢二・小林賢司（筑波大）・石田 猛・奥山 裕・山田廉一（日立）  SDM2008-55 |
[more] | SDM2008-55 pp.77-82 |
| SDM | 2007-06-07 13:30 |
広島 | 広島大学（学士会館） | MONOS型不揮発メモリの電子および正孔トラップ解析 ○石田 猛・山田廉一・鳥居和功（日立）・白石賢二（筑波大） SDM2007-31 |
MONOS（Metal-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon）型不揮発性メモリーの高信頼化を目的に，M... [more] | SDM2007-31 pp.1-6 |
| ICD | 2006-04-13 09:20 |
大分 | 大分大学 | DRAMにおけるVRT(Variable Retention Time)の起原 ～ 接合リーク電流の2値変動 ～ 毛利友紀（日立）・大湯靜憲・小此木堅祐（エルピーダメモリ）・○山田廉一（日立） |
[more] | ICD2006-1 pp.1-6 |
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