お知らせ 研究会の開催と会場に参加される皆様へのお願い(2021年10月開催~)
お知らせ 5月26日(木) 10:00~13:00(予定),Webサーバ本体のリプレイス作業のため,システムを停止させます.
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
研究会 開催スケジュール
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
    [Japanese] / [English] 
研究会名/開催地/テーマ  )→
 
講演検索  検索語:  /  範囲:題目 著者 所属 抄録 キーワード )→

すべての研究会開催スケジュール  (すべての年度)

講演検索結果
 登録講演(開催プログラムが公開されているもの)  (日付・降順)
 83件中 1~20件目  /  [次ページ]  
研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2022-03-10
10:30
ONLINE オンライン開催 論理故障テスト並列化のための制御信号のドントケア割当て法
徐 浩豊細川利典山崎紘史新井雅之日大)・吉村正義京都産大
近年,VLSIのテストコスト増大に伴い,テストパターン数の削減が重要になっている.テストパターン数を削減するために,テス... [more] CPSY2021-56 DC2021-90
pp.67-72
DC 2022-03-01
13:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
RTLにおけるSFLL-hdに基づいた論理暗号化手法
野口葉平吉村正義京都産大)・辻川敦也細川利典日大
近年,VLSIの集積度の増加に伴い,LSI設計会社は設計コスト削減のためIPベンダよりIPコアと呼ばれるある機能を持った... [more] DC2021-72
pp.45-50
DC 2022-03-01
15:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
無効状態を含んだコントローラの遷移故障検出率向上指向状態割当て法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大
 [more] DC2021-75
pp.63-68
DC 2022-03-01
15:45
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のための コントローラの制御信号のドントケア割当て法の評価
土渕航平徐 浩豊千田裕弥細川利典日大)・山崎浩二明大
 [more] DC2021-76
pp.69-74
DC 2022-03-01
16:10
東京 機械振興会館
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
ニューラルネットワークと故障検出情報を用いたマルチサイクルキャプチャテストにおける論理故障に関する欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・新井雅之山内ゆかり日大
 [more] DC2021-77
pp.75-80
DC 2021-12-10
13:00
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
低消費電力指向多重目標故障テスト生成法
三浦 怜細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2021-55
近年,超大規模集積回路の実速度テスト時におけるキャプチャ消費電力の増大に伴い,低消費電力指向テスト生成手法が提案されてい... [more] DC2021-55
pp.1-6
DC 2021-12-10
14:00
香川 国民宿舎小豆島(ふるさと荘交流センター)
(ハイブリッド開催,主:現地開催,副:オンライン開催)
レジスタ転送レベルにおけるSAT攻撃とFALL攻撃に耐性のある論理暗号化手法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2021-57
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] DC2021-57
pp.13-18
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:00
ONLINE オンライン開催 ニューラルネットワークを用いた被疑論理故障信号線の欠陥種類推定法
太田菜月細川利典日大)・山崎浩二明大)・山内ゆかり新井雅之日大CPSY2020-61 DC2020-91
特定の故障モデルの故障診断は誤診断や解なしという診断を起こす可能性があるため,スキャン設計回路を対象としたマルチサイクル... [more] CPSY2020-61 DC2020-91
pp.67-72
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:20
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベル回路における故障診断容易化のためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法
土渕航平細川利典日大)・山崎浩二明大CPSY2020-62 DC2020-92
近年の半導体微細化技術の進歩に伴い,超大規模集積回路において,故障解析は歩留まりの向上のために重要である.被疑故障を事前... [more] CPSY2020-62 DC2020-92
pp.73-78
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
11:40
ONLINE オンライン開催 コントローラの遷移故障検出率向上のためのコントローラ拡大法
飯塚恭平細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-63 DC2020-93
近年,VLSIの微細化,高速化,電源電圧の低下に伴い,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっ... [more] CPSY2020-63 DC2020-93
pp.79-84
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-SLDM, IPSJ-EMB, IPSJ-ARC
(共催)
(連催) [詳細]
2021-03-26
12:00
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおけるアンチSATに基づく論理暗号化法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-64 DC2020-94
近年,大規模化に伴いVLSIを設計会社1社のみで設計を行うのが困難になり,IPベンダよりIPコアを購入し必要な部分のみを... [more] CPSY2020-64 DC2020-94
pp.85-90
DC 2021-02-05
14:00
ONLINE オンライン開催 RTLハードウェア要素のテストスケジューリング情報を用いた多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2020-74
近年,大規模集積回路のテストコスト増大伴い,テストパターン数削減のためのテスト並列化手法が提案されている.従来手法ではコ... [more] DC2020-74
pp.30-35
DC 2021-02-05
14:50
ONLINE オンライン開催 テスト容易化機能的時間展開モデルの情報を用いたテスト生成法
中村健太石山悠太細川利典日大DC2020-76
 [more] DC2020-76
pp.42-47
DC 2021-02-05
15:30
ONLINE オンライン開催 レジスタ転送レベルにおける非スキャンベースフィールドテスタビリティに基づく制御信号のドントケア割当て法
池ヶ谷祐輝石山悠太細川利典日大)・吉村正義京都産大DC2020-77
VLSI の経年劣化による障害を回避する手段の一つとして,機能動作時に回路の出力や内部信号線の値を監視するフィールドテス... [more] DC2020-77
pp.48-53
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
15:45
ONLINE オンライン開催 テストパターン数削減のためのゲート網羅故障の多重目標故障テスト生成法
浅見竜輝細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大CPSY2020-12 DC2020-12
近年,集積回路の高集積化・複雑化に伴い,セル内の欠陥が増加し,セル内の故障モデルのテスト生成法やゲート網羅故障モデルのテ... [more] CPSY2020-12 DC2020-12
pp.75-80
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
16:15
ONLINE オンライン開催 データ量に基づく可検査性尺度を用いたテスト容易化機能的時間展開モデル生成法
中村健太細川利典石山悠太日大)・藤原秀雄阪学院大CPSY2020-13 DC2020-13
 [more] CPSY2020-13 DC2020-13
pp.81-86
CPSY, DC
(共催)
IPSJ-ARC
(連催) [詳細]
2020-07-31
17:30
ONLINE オンライン開催 機能等価な有限状態機械生成に基づく面積削減指向コントローラ拡大法
辻川敦也細川利典日大)・吉村正義京都産大CPSY2020-15 DC2020-15
近年,コントローラ拡大はレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計やセキュリティ設計に用い られている.コントローラ... [more] CPSY2020-15 DC2020-15
pp.93-98
HWS, VLD
(共催) [詳細]
2020-03-06
14:30
沖縄 沖縄県青年会館
(開催中止,技報発行あり)
パーシャルMAX-SATを用いた抵抗性オープン故障に対するテスト生成法
山崎紘史石山悠太松田竜馬細川利典日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大)・四柳浩之橋爪正樹徳島大VLD2019-131 HWS2019-104
従来,VLSIのテストでは,縮退故障モデルや遷移故障モデルが広く用いられてきた.しかしながら,半導体微細化技術の進展に伴... [more] VLD2019-131 HWS2019-104
pp.215-220
DC 2020-02-26
12:00
東京 機械振興会館 n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法
竹内勇希細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大DC2019-90
近年,VLSIの微細化,高速化にともない,遷移故障モデルなどのタイミング欠陥に対するテストが必要不可欠となっている.しか... [more] DC2019-90
pp.25-30
DC 2020-02-26
14:10
東京 機械振興会館 パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法
三澤健一郎細川利典山崎紘史日大)・吉村正義京都産大)・新井雅之日大DC2019-92
近年,実速度スキャンテストにおいて,過度なキャプチャ時消費電力の発生が問題視されている.キャプチャ時消費電力を削減するた... [more] DC2019-92
pp.37-42
 83件中 1~20件目  /  [次ページ]  
ダウンロード書式の初期値を指定してください NEW!!
テキスト形式 pLaTeX形式 CSV形式 BibTeX形式
著作権について : 以上の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会