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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
OPE, LQE, CPM, EMD, R
(共催)
2013-08-29
16:00
北海道 サンリフレ函館 準静電界センシングによるLSI内部構造の評価
眞田 克高知工科大)・伊藤誠吾こなか電子工房R2013-41 EMD2013-47 CPM2013-66 OPE2013-70 LQE2013-40
 [more] R2013-41 EMD2013-47 CPM2013-66 OPE2013-70 LQE2013-40
pp.65-70
R 2011-05-13
17:15
高知 高知市文化プラザ「かるぽーと」 CMOSトランジスタの動作点解析による故障箇所の特定
岸 和敬眞田 克高知工科大R2011-14
診断精度の向上した,簡易で,高速処理可能な故障診断のソフトウェアを開発している.方式はレイ アウトから特定した故障候補を... [more] R2011-14
pp.35-40
EMD, R
(共催)
2011-02-18
15:00
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出
坂本俊輔眞田 克高知工科大R2010-46 EMD2010-147
電源電流(IDDQ)情報は論理情報に比べて高い故障検出感度を有しているためLSI評価に広く用いられている.我々はこの技術... [more] R2010-46 EMD2010-147
pp.25-30
EMD, R
(共催)
2011-02-18
15:25
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) 開放故障に伴う不安定論理の固定化
安富泰輝眞田 克高知工科大R2010-47 EMD2010-148
不安定な出力論理を有するフローティングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った.実験はゲートオープン故障を... [more] R2010-47 EMD2010-148
pp.31-36
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-03
13:25
高知 高知市文化プラザ DEFデータの視覚化による故障箇所候補の特定
岸 和敬眞田 克高知工科大VLD2009-53 DC2009-40
DEFデータを用いて視覚化した配線情報と特異な故障形状のレイアウト情報は故障形状の取得と対象とする配線名の識別を可能にす... [more] VLD2009-53 DC2009-40
pp.85-88
VLD, DC, IPSJ-SLDM
(連催)
ICD, CPM
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2009-12-04
14:05
高知 高知市文化プラザ 開放故障に伴う不安定論理の固定化 ~ 簡易な故障診断技術を目指して ~
眞田 克高知工科大)・橋田啓二ルネサスデザイン)・安富泰輝高知工科大VLD2009-64 DC2009-51
不安定な出力論理を有するフローテイングゲート故障に対して、出力論理値を固定化する実験を行った。実験はゲートオープン故障を... [more] VLD2009-64 DC2009-51
pp.161-166
IN 2009-06-12
09:30
福井 福井大学 ライフログを利用した共感コミュニケーションサービスの構想と実現課題
真田 勝鈴木 光NTTIN2009-19
NGNなどの双方向の高速・大容量通信インフラの家庭への普及,クラウド技術によるスケーラブルなサーバ実装技術の発展,携帯電... [more] IN2009-19
pp.37-41
R 2008-06-20
14:55
東京 機械振興会館 LSIの評価・解析を通した品質意識の向上 ~ 大学での試み ~
真田 克高知工科大R2008-19
大学にて学生への品質意識をどこまで向上させることができるか試行錯誤している。当研究室はLSIの故障解析・診断技術を中心と... [more] R2008-19
pp.25-30
EMD, R
(共催)
2008-02-15
10:40
京都 オムロン京都センタービル啓真館 簡易ESD装置の開発とその適用検討 ~ ESD破壊現象の特定 ~
山崎規雄真田 克高知工科大R2007-59 EMD2007-114
ESD耐量の調査と破壊防止を目的とした簡易なESD試験装置を試作した。装置は高電圧供給源とリレースイッチ及び、信号制御回... [more] R2007-59 EMD2007-114
pp.1-6
R 2007-09-14
10:55
高知 高知工科大学 トランジスタ動作点解析による故障論理の追跡 ~ フィードバック故障による発振現象の取得 ~
真田 克中村朋矢橋田啓示高知工科大R2007-30
 [more] R2007-30
pp.5-10
ED, SDM, R
(共催)
2006-11-24
13:00
大阪 中央電気倶楽部 [招待講演]トランジスタの動作点解析による故障箇所の特定
真田 克高知工科大
 [more] R2006-31 ED2006-176 SDM2006-194
pp.1-6
ICD, CPM
(共催)
2005-01-28
11:45
東京 機械振興会館 故障診断のための観測性の定量化について
豊田直哉梶原誠司温 暁青九工大)・真田 克NECエレクトロニクス
現在の故障診断は,回路の外部出力とスキャンフリップフロップを観測点として行うことが多い.しかし,回路の大規模化により,こ... [more] CPM2004-167 ICD2004-212
pp.31-34
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