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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2017-04-20
14:15
東京 機械振興会館 [依頼講演]リード・ホット・データとコールド・データのエラーを削減するデータセンタ向けTLC NAND型フラッシュメモリの高信頼制御技術
中村俊貴小林惇朗竹内 健中大ICD2017-6
クラウドデータセンタでは、読み出しが頻繁に行われるホットデータからほとんど読み出しが行われないコールドデータまで、様々な... [more] ICD2017-6
pp.29-34
ICD, CPSY
(共催)
2016-12-15
15:30
東京 東京工業大学 [ポスター講演]NAND型フラッシュメモリに生じる読み出しディスターブエラーの解析
渡邉 光小林惇朗竹内 健中大ICD2016-66 CPSY2016-72
近年、クラウド技術やSNSの普及により、データが局所的に読み出されるアプリケーションが増加している。ソリッド・ステート・... [more] ICD2016-66 CPSY2016-72
p.51
ICD, CPSY
(共催)
2016-12-15
15:30
東京 東京工業大学 [ポスター講演]TLC NAND型フラッシュメモリにおけるデータ保持エラーの低減
佐藤優一出口慶明小林惇朗竹内 健中大ICD2016-76 CPSY2016-82
NAND型フラッシュメモリは多値化や微細化により、1bit当たりのコストが低下している。しかし、一つのメモリセルに3bi... [more] ICD2016-76 CPSY2016-82
p.75
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]誤り訂正符号の影響を考慮したソリッド・ステート・ドライブの性能評価
山賀祐典徳富 司小林惇朗竹内 健中大ICD2015-71 CPSY2015-84
NAND型フラッシュメモリを用いたソリッド・ステート・ドライブ(SSD)では、誤り訂正符号によって信頼性が保障されている... [more] ICD2015-71 CPSY2015-84
p.41
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
16:00
京都 京都工芸繊維大学 [ポスター講演]TLC NAND型フラッシュメモリにおけるビットエラーの解析
出口慶明徳冨 司小林惇朗竹内 健中大ICD2015-75 CPSY2015-88
NAND型フラッシュメモリは1つのメモリセルに記録するビット数を増やすことで大容量化を実現している。中でも1つのメモリセ... [more] ICD2015-75 CPSY2015-88
p.49
ICD 2015-04-16
15:15
長野 信州大学 [招待講演]アーカイブとエンタープライズストレージに向けた高信頼TLC NANDフラッシュソリッド・ステート・ドライブ
蜂谷尚悟田中丸周平德冨 司土井雅史北村雄太山﨑泉樹小林惇朗竹内 健中大ICD2015-5
 [more] ICD2015-5
pp.21-26
ICD, CPSY
(共催)
2014-12-01
15:15
東京 機械振興会館 [ポスター講演]NAND型フラッシュメモリの信頼性評価
小林惇朗蜂谷尚悟土井雅史徳冨 司竹内 健中大ICD2014-92 CPSY2014-104
 [more] ICD2014-92 CPSY2014-104
p.63
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