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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
SDM 2012-11-15
14:30
東京 機械振興会館 [招待講演]高周波帯域雑音計測プローブによるMOSFETの時間揺らぎ特性評価 ~ 1/f(低周波)から熱雑音(100 MHz超)まで ~
大毛利健治筑波大SDM2012-102
 [more] SDM2012-102
pp.15-19
SDM 2012-11-16
13:00
東京 機械振興会館 立体構造シリコン中の熱輸送に関する分子動力学シミュレーション
図師知文早大/JST)・大毛利健治山田啓作筑波大/JST)・渡邉孝信早大/JSTSDM2012-108
ナノMOSFETにおいて形成されるとされる縦波光学(LO)フォノンが滞留した非平衡熱分布,いわゆるホットスポットの熱散逸... [more] SDM2012-108
pp.47-52
SDM 2011-11-11
11:15
東京 機械振興会館 非対称ホーン形状チャネルにおける電流密度の向上 ~ EMC-MDシミュレーションによる検討 ~
神岡武文早大/JST)・今井裕也早大)・大毛利健治白石賢二筑波大/JST)・鎌倉良成阪大/JST)・渡邉孝信早大/JSTSDM2011-123
キャリア輸送のチャネル形状依存性をモンテカルロ/分子動力学(EMC/MD)シミュレーションにより調査した.非対称なホーン... [more] SDM2011-123
pp.45-50
SDM 2011-07-04
11:20
愛知 名古屋大学(ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー) Siナノワイヤー、ナノレイヤの発光と界面
櫻井蓉子大毛利健治山田啓作筑波大)・角嶋邦之岩井 洋東工大)・白石賢二・○野村晋太郎筑波大SDM2011-56
発光顕微分光法によりSiナノワイヤー、ナノレイヤの発光特性を評価した.膜厚2.7~25.2 nmの極薄SOI試料の発光ス... [more] SDM2011-56
pp.35-39
SDM 2006-06-21
16:00
広島 広島大学, 学士会館 金属電極/High-k絶縁膜キャパシタのフラットバンド電圧特性に与える仕事関数変調及び熱処理の影響
大毛利健治物質・材料研究機構)・Parhat Ahmet東工大)・白石賢二筑波大)・渡部平司阪大)・赤坂泰志半導体先端テクノロジーズ)・山部紀久雄筑波大)・吉武道子物質・材料研究機構)・K. S. ChangM. L. GreenNIST)・奈良安雄半導体先端テクノロジーズ)・山田啓作早大)・知京豊裕物質・材料研究機構
 [more] SDM2006-48
pp.37-41
SIP, ICD, IE, IPSJ-SLDM
(共催)
2005-10-20
09:00
宮城 作並温泉一の坊 画角を利用した3次元位置推定法
赤羽淳平・○大森健児法政大
 [more] SIP2005-96 ICD2005-115 IE2005-60
pp.1-6
ISEC, LOIS
(共催)
2004-11-09
15:20
大阪 大阪大学 インターネット会計システム ~ モデル駆動型アーキテクチャでの開発 ~
堀之上大介大森健児法政大
 [more] ISEC2004-96 OIS2004-63
pp.77-84
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