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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2013-04-11 16:20 |
茨城 | 産業技術総合研究所 つくばセンター | スピン論理集積回路における基本ゲートの高信頼化技術 ○辻 幸秀・根橋竜介・崎村 昇・森岡あゆ香・本庄弘明・徳留圭一・三浦貞彦（NEC）・鈴木哲広（ルネサス エレクトロニクス）・深見俊輔・木下啓藏・羽生貴弘・遠藤哲郎・笠井直記・大野英男（東北大）・杉林直彦（NEC）  ICD2013-9 |
磁壁移動型スピン素子を用いた不揮発性論理ゲートにおいてゲート内でスピン素子を冗長化させることで、1スピン素子に起こるエラ... [more] | ICD2013-9 pp.41-46 |
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