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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
HWS
(第二種研究会)
2018-12-13
16:10
東京 東京大学 武田先端知ビル [ポスター講演]振幅確率分布を用いた真性乱数生成器の乱数性評価手法に関する基礎検討
大須賀彩希藤本大介奈良先端大)・本間尚文東北大)・Arthur BeckersJosep BalaschBenedikt GierlichsIngrid VerbauwhedeKU Leuven)・林 優一奈良先端大
(事前公開アブストラクト) 真性乱数生成器に対して、乱数性の基となるエントロピー源に物理攻撃を行うことで、乱数性を低下さ... [more]
EMCJ, IEE-EMC, IEE-MAG
(連催)
2018-11-22
15:10
海外 KAIST(韓国大田市) [ポスター講演]Fundamental Study on Degradation of Randomness in TRNG Due to Intentional Electromagnetic Interference
Saki OsukaDaisuke FujimotoNAIST)・Naofumi HommaTohoku Univ.)・Arthur BeckersJosep BalaschBenedikt GierlichsIngrid VerbauwhedeKU Leuven)・Yu-ichi HayashiNAISTEMCJ2018-66
 [more] EMCJ2018-66
pp.35-36
HWS, ISEC, SITE, ICSS, EMM
(共催)
IPSJ-CSEC, IPSJ-SPT
(共催)
(連催) [詳細]
2018-07-25
14:25
北海道 札幌コンベンションセンター ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法
岡本拓実藤本大介林 優一奈良先端大)・本間尚文東北大)・アーサー ベッカーズジョゼフ バラスチベネディクト ゲーリッヒイングリッド ヴェルバウヘーデKU LeuvenISEC2018-20 SITE2018-12 HWS2018-17 ICSS2018-23 EMM2018-19
従来の意図的な電磁妨害(IEMI)で利用されるような高電力電磁波(HPEM)に比べ3桁ほど小さいレベルの妨害電磁波を暗号... [more] ISEC2018-20 SITE2018-12 HWS2018-17 ICSS2018-23 EMM2018-19
pp.77-81
VLD, DC
(共催)
CPM, ICD, IE
(共催)
CPSY, RECONF
(併催) [詳細]
2016-11-28
15:30
大阪 立命館大学大阪いばらきキャンパス 40 nm SiONプロセスにおけるランダムテレグラフノイズ複合欠陥モデルを用いた回路解析手法
籔内美智太郎大島 梓駒脇拓弥小林和淑岸田 亮古田 潤京都工繊大)・Pieter WeckxKUL/IMEC)・Ben KaczerIMEC)・松本高士東大)・小野寺秀俊京大VLD2016-52 DC2016-46
複合欠陥を考慮したランダムテレグラフノイズ (RTN: Random Telegraph Noise) モデルを用いた回... [more] VLD2016-52 DC2016-46
pp.49-54
ICD, CPSY
(共催)
2015-12-17
09:40
京都 京都工芸繊維大学 40nmプロセスリングオシレータにおける複合モード欠陥を用いたRTNのモデル化
大島 梓京都工繊大)・Pieter WeckxBen KaczerIMEC)・松本高士東大)・小林和淑京都工繊大)・小野寺秀俊京大ICD2015-63 CPSY2015-76
 [more] ICD2015-63 CPSY2015-76
pp.1-6
ICSS 2014-11-27
15:35
宮城 東北学院大学 多賀城キャンパス(変更しました) 軽量暗号に関する技術・標準化動向について ~ ISO/IEC JTC1/SC27/WG2における状況報告 ~
吉田博隆渡辺 大日立)・ニッキー ムーアルーベン大ICSS2014-55
あらゆるモノがインターネット接続されるIoTに注目が集まる中、IoTデバイス向けのセキュリティ機能の検討が進んでいる。I... [more] ICSS2014-55
pp.25-30
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