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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| LQE, EST, OPE, EMT, PN, MWP (共催) IEE-EMT, PEM (連催) ※学会内は併催 [詳細] |
2016-01-28 14:45 |
兵庫 | 神戸市産業振興センター | 光磁界測定システムの開発 ○上條憲一・畑 康広（森田テック）・日高邦彦（東大）・水戸慎一郎（東京高専） |
[more] | |
| IT, ISEC, WBS (共催) |
2013-03-08 10:30 |
大阪 | 関西学院大学 大阪梅田キャンパス | 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃 ○大野 仁・土屋 遊・遠山 毅・岸川 剛・齋藤翔平（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・佐藤 証（東大）・松本 勉（横浜国大）  IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 |
[more] | IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 pp.195-202 |
| ISEC | 2012-12-12 14:55 |
東京 | 機械振興会館 | DPA Contest v3で用いたYNUの消費電力波形取得技術 松本 勉・岸川 剛・大野 仁・齋藤翔平・土屋 遊（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・○遠山 毅（横浜国大） ISEC2012-76 |
[more] | ISEC2012-76 pp.29-36 |
| ISEC, LOIS (共催) |
2012-11-21 14:15 |
静岡 | 静岡市産学交流センター | 電磁波照射を用いたフォールト攻撃によるICカードからのAES鍵の抽出 ○土屋 遊・岸川 剛・齋藤翔平・遠山 毅（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・佐藤 証（東大）・松本 勉（横浜国大） ISEC2012-57 LOIS2012-32 |
暗号モジュールに部分的にフォールトを起こしモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法と位置づけられ,フォ... [more] | ISEC2012-57 LOIS2012-32 pp.1-8 |
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