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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD | 2013-04-12 14:45 |
茨城 | 産業技術総合研究所 つくばセンター | ［依頼講演］非選択カラムのビット線電荷を有効利用するためのチャージコレクタ回路を搭載した13.8pJ/Access/Mbit SRAM ○森脇真一・山本安衛・鈴 木 利 一（半導体理工学研究センター）・川澄 篤（東芝）・宮野信治・篠原尋史（半導体理工学研究センター）・桜井貴康（東大）  ICD2013-20 |
本論文は、非選択カラムの電荷を有効利用のためのチャージコレクタ回路を有する1Mb SRAMを40nmテクノロジで製作した... [more] | ICD2013-20 pp.103-108 |
| ICD | 2011-04-19 11:20 |
兵庫 | 神戸大学 瀧川記念館 | [依頼講演]サスペンディッド・ビットライン読出し方式を用いた0.5V 5.5nsecアクセスタイムバルクCMOS 8T SRAM ○鈴木利一・森脇真一・川澄 篤・宮野信治・篠原尋史（半導体理工学研究センター） ICD2011-12 |
低電圧(0.5V)で高速(アクセスタイム5.5nsec)のバルクCMOS 8T SRAMについて報告する。相補読出し型の... [more] | ICD2011-12 pp.65-70 |
| ICD (ワークショップ) |
2010-08-16 - 2010-08-18 |
海外 | ホーチミン市百科大学 | Device-modeling techniques for high-frequency circuits operated at over 100GHz ○Ryuichi Fujimoto（STARC）・Kyoya Takano・Mizuki Motoyoshi（Univ. of Tokyo）・Uroschanit Yodprasit・Minoru Fujishima（Hiroshima Univ.） |
[more] | |
| ICD, CPM (共催) |
2005-09-09 13:50 |
東京 | 機械振興会館 | Measurement of Inner-chip Variation and Signal Integrity By a 90-nm Large-scale TEG ○Masaharu Yamamoto（STARC）・Yayoi Hayasi・Hitoshi Endo（Hitachi ULSI）・Hiroo Masuda（STARC） |
[more] | CPM2005-103 ICD2005-113 pp.41-46 |
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