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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ED, LQE, CPM
(共催)
2018-11-29
14:15
愛知 名古屋工業大学 GaN-MOSFETにおけるGaN表面処理とゲート絶縁膜アニールによるチャネル移動度の改善
梶原瑛祐新留 彩彦坂年輝蔵口雅彦東芝)・吉岡 啓東芝デバイス&ストレージ)・布上真也東芝
リセス構造型のノーマリオフGaN-MOSFETのチャネル移動度を改善したので報告する.これは,リセスエッチングで生じたG... [more] ED2018-35 CPM2018-69 LQE2018-89
pp.13-16
EST, MW, OPE, MWP, EMT
(共催)
IEE-EMT, THz
(連催) [詳細]
2018-07-19
09:45
北海道 洞爺観光ホテル [招待講演]自動運転用LiDAR向け距離計測SoC技術
崔 明秀吉岡健太郎東芝)・久保田 寛東芝デバイス&ストレージ)・近藤智史タ トァン タン大國英徳東芝)・木村克行太田 裕杉本智彦黒瀬大介石井啓友松本 展東芝デバイス&ストレージ
本論文では、安心・安全な自動運転システムを実現するためのLiDAR向けTDC/ADCハイブリッド距離計測SoCについて紹... [more] EMT2018-8 MW2018-23 OPE2018-11 EST2018-6 MWP2018-7
pp.7-12
ASN 2018-01-30
14:15
大分 三菱電機 湯布郷館 無線LANにおけるMU-MIMO協調再送制御方式の提案
利光 清東芝デバイス&ストレージ)・平栗健史日本工大)・西森健太郎新潟大)・森野義明設樂 勇満井 勉吉野秀明日本工大
本研究は,高信頼で,高い伝送効率を実現するMU-MIMO(Multiuser Multiple Input Multip... [more] ASN2017-91
pp.47-52
LQE, CPM, ED
(共催)
2017-12-01
12:55
愛知 名古屋工業大学 MOS型GaNパワーデバイスにおけるPBTI信頼性の改善
梶原瑛祐米原健矢加藤大望上杉謙次郎新留 彩蔵口雅彦向井 章大野浩志湯元美樹東芝)・吉岡 啓東芝デバイス&ストレージ)・布上真也東芝
 [more] ED2017-62 CPM2017-105 LQE2017-75
pp.65-68
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