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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
ICD 2015-04-16
13:50
長野 信州大学 [依頼講演]車載MCUにおける-40~170℃動作可能なWrite Disturb問題スクリーニング回路を有する40 nm Dual-port、Two-port SRAM
横山佳巧石井雄一郎福田達哉辻橋良樹宮西篤史ルネサス エレクトロニクス)・朝山 忍前川径一柴 和利ルネサス セミコンダクタ マニュファクチュアリング)・新居浩二ルネサス エレクトロニクス
40nm Flash混載CMOSプロセスを使用して、自動車アプリケーションMCU用に-40~170℃で動作するDual-... [more] ICD2015-3
pp.9-14
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