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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
R, EMD
(共催)
2022-02-10
14:00
ONLINE オンライン開催 [招待講演]電気接点デバイス特有の故障モードと対策の考察
森井真喜人オムロンR2021-43 EMD2021-11
 [more] R2021-43 EMD2021-11
pp.1-5
PRMU, BioX
(共催)
2018-03-18
15:45
東京 青山学院大学 青山キャンパス 開眼度ヒストグラムを用いた眠気推定
松田貴大中澤篤志京大)・橋崎将典木下航一オムロン)・西田豊明京大BioX2017-51 PRMU2017-187
事故防止の観点から自動車運転手の眠気検出技術が求められ,様々な眠気推定システムが提案されている.眠気推定指標として瞬目特... [more] BioX2017-51 PRMU2017-187
pp.91-96
R 2012-11-15
15:15
大阪 中央電気倶楽部 MEMS薄膜の湿度による破断メカニズムと湿度試験の加速性
松井悦子中尾太一新谷淳一オムロンR2012-63
 [more] R2012-63
pp.17-21
EMD, R
(共催)
2012-02-17
14:05
京都 オムロンラーニングセンタ Ni-Sn間に成長するへら状生成物一考察(2)
伊藤貞則イトケン事務所)・鈴木雅史オムロン)・谷口富雄上田鍍金R2011-48 EMD2011-122
Niめっき上のSnめっき層中にはんだ付け性を低下させるへら状のNi-Sn合金生成物が成長する.この生成物はどのようなめっ... [more] R2011-48 EMD2011-122
pp.37-40
EMD, R
(共催)
2011-02-18
16:40
静岡 静岡大学(浜松キャンパス) Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察
伊藤貞則イトケン事務所)・鈴木雅史オムロンR2010-50 EMD2010-151
 [more] R2010-50 EMD2010-151
pp.49-52
EMD, R
(共催)
2010-02-19
16:10
大阪 パナソニック「松心会館」 毛髪銀の生成伸長一考察
伊藤貞則元オムロン)・佐々木孝文オムロン)・山口博己オムロンリレーアンドデバイスR2009-58 EMD2009-125
毛髪銀の還元と電界による二つの生成伸長メカニズムについて検討した結果を報告した。還元による成長は硫化試験後の試料を用いて... [more] R2009-58 EMD2009-125
pp.49-52
R 2009-11-20
13:45
大阪 大阪:中央電気倶楽部 シリコーンによる電気接点の接触信頼性
森井真喜人森脇弘之オムロンR2009-41
 [more] R2009-41
pp.1-5
EMCJ, EMD
(共催)
2005-07-29
14:55
東京 機械振興会館 鉛フリーコイルはんだ接合部の銅食われの加速信頼性予想について
坂本一三オムロン
 [more] EMCJ2005-56 EMD2005-35
pp.19-22
EE, CPM
(共催)
2005-01-21
13:40
東京 機械振興会館 リードフレームモジュールの放熱性・小型化および信頼性の検証 ~ 小型電源を達成したその技術 ~
吉田和孝オムロン
近年、電子機器の小型化の要求が年々強くなっている.またIT業界においても例外ではなく、その要求は広範囲にわたっており、要... [more] EE2004-53 CPM2004-148
pp.33-38
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