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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| DC | 2011-02-14 11:00 |
東京 | 機械振興会館 | 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析 ○柏崎智史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2010-61 |
近年，製造テストで正常VLSIと判定され，出荷後のフィールド上で経年劣化の結果微小な遅延が発生し，不良VLSIとなるもの... [more] | DC2010-61 pp.13-19 |
| DC | 2011-02-14 14:10 |
東京 | 機械振興会館 | 機能的時間展開モデルを用いたデータパス回路のテスト生成法 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-65 |
近年，より抽象度の高い動作記述を用いて大規模集積回路の設計が行われている．動作記述から動作合成を用いて生成されるレジスタ... [more] | DC2010-65 pp.39-44 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-11-29 15:45 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | キャプチャ時消費電力指向テスト生成における検出疑似外部出力決定法 ○沈 揚・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2010-62 DC2010-29 |
実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の遷移パターンの消費電力の増大は過度のIRドロップを引き起こし，結果として誤テ... [more] | VLD2010-62 DC2010-29 pp.37-42 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2010-12-01 11:25 |
福岡 | 九州大学医学部百年講堂 | 動作記述を用いた順序テスト生成およびテスト容易化バインディング ○井上諒一・藤原浩顕・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） VLD2010-76 DC2010-43 |
順序回路に対して多くのテスト生成アルゴリズムが提案されているが，組合せ回路に対するテスト生成と比べ困難な問題であり，現実... [more] | VLD2010-76 DC2010-43 pp.143-148 |
| DC | 2010-06-25 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | ランダムパターンレジスタント故障検出用ドントケア抽出を用いたBASTアーキテクチャにおけるテストパターンマッチング法 ○陳 贇・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2010-11 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組込み自己テストと自動テスト生成を組み... [more] | DC2010-11 pp.19-24 |
| DC | 2010-02-15 10:00 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析 ○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2009-67 |
過剰テストは，歩留まり低下の原因の一つとなる．テスト不可能故障は，回路の機能動作に影響を与えない故障である．しかしながら... [more] | DC2009-67 pp.13-18 |
| DC | 2010-02-15 11:25 |
東京 | 機械振興会館 | 演算器順序深度削減指向テスト容易化バインディング法 ○長 孝昭・細川利典（日大） DC2009-70 |
近年特定の応用分野において，動作記述を用いて回路設計が行われている．動作記述からレジスタ転送レベル回路を設計するさい，動... [more] | DC2009-70 pp.31-38 |
| DC | 2010-02-15 13:45 |
東京 | 機械振興会館 | 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法 ○湯本仁高・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2009-72 |
近年，半導体集積技術の進展に伴い，大規模集積回路(LSI)が大規模化，高集積化している．LSIが大規模化，高集積化するこ... [more] | DC2009-72 pp.45-50 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 13:25 |
高知 | 高知市文化プラザ | テスト圧縮指向ドントケア抽出法 ○若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2009-62 DC2009-49 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，テストパターン数の増大、故障モデルの多様化が問題となっている．それらの問題を解決す... [more] | VLD2009-62 DC2009-49 pp.149-154 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-04 13:45 |
高知 | 高知市文化プラザ | RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計 ○早川鉄平・細川利典（日大）・吉村正義（九大） VLD2009-63 DC2009-50 |
[more] | VLD2009-63 DC2009-50 pp.155-160 |
| VLD, IPSJ-SLDM (連催) |
2009-05-20 15:20 |
福岡 | 北九州国際会議場 | テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法 ○小河宏志（日大）・吉村正義（九大）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） VLD2009-3 |
LSIの製造歩留まり向上策の一つとして過剰テストが重要となってきている．過剰テストの抑制策のひとつとして，テスト不可能故... [more] | VLD2009-3 pp.13-18 |
| DC | 2009-02-16 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法 吉村正義（九大）・○小河宏志（日大）・大森悠翔（富士通マイクロエレクトロニクス）・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2008-69 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2008-69 pp.7-12 |
| DC | 2009-02-16 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | SATを用いたATPG困難故障に対する冗長故障判定の高速化 ○秋山祐介・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2008-70 |
近年，VLSIのテストではより100％の故障検出効率が求められている．しかしながら，VLSIの大規模化や複雑化に伴い，検... [more] | DC2008-70 pp.13-18 |
| DC | 2009-02-16 15:20 |
東京 | 機械振興会館 | 検出容易故障に着目したドントケア数増加手法 ～ BASTアーキテクチャへの適用 ～ ○万 玲玲・若園大洋・細川利典（日大）・吉村正義（九大） DC2008-76 |
LSIのテスト品質を維持しながら，テストデータ量を大幅に削減する手法の一つとして，組み込み自己テストと自動テスト生成を組... [more] | DC2008-76 pp.49-54 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (共催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2008-11-17 13:00 |
福岡 | 北九州学術研究都市 | ドントケア抽出を用いた縮退故障テストの遷移故障検出率向上手法 ○濱崎和光・細川利典（日大） VLD2008-60 DC2008-28 |
近年VLSIの大規模化，複雑化に伴い，縮退故障テスト以外に遷移故障やブリッジ故障に対するテストの要求が高まってきている．... [more] | VLD2008-60 DC2008-28 pp.1-6 |
| DC | 2008-02-08 10:25 |
東京 | 機械振興会館 | マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成 大森悠翔・○小河宏志・細川利典（日大）・吉村正義（九大）・山崎浩二（明大） DC2007-70 |
スキャンテストは，VLSIのテスト方式として広く普及しているが，回路構造の情報のみを利用したテスト法で，シフト動作によっ... [more] | DC2007-70 pp.19-24 |
| DC | 2008-02-08 10:50 |
東京 | 機械振興会館 | 故障活性化率向上のための可変n回テスト生成法とその品質評価に関する研究 ○冨田 健・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） DC2007-71 |
高品質なテストパターンの生成法の1つとして，n回検出テスト生成法が知られている．しかしながら，n回検出テスト集合の定義に... [more] | DC2007-71 pp.25-31 |
| DC | 2008-02-08 15:15 |
東京 | 機械振興会館 | テスト長制約下での欠陥検出向上のための状態可観測なFSMのテスト生成法 ○井上諒一・細川利典（日大）・藤原秀雄（奈良先端大） DC2007-78 |
我々は，オーバーテストやアンダーテストを抑制するために，状態可観測な状態遷移機械（FSM）の論理故障テストやタイミング故... [more] | DC2007-78 pp.69-76 |
| DC | 2008-02-08 15:40 |
東京 | 機械振興会館 | テストパターンの静的圧縮における厳密解と貪欲解の比較 ○八木澤 圭・山崎浩二（明大）・細川利典（日大）・玉木久夫（明大） DC2007-79 |
本稿ではドントケアに基づく静的テストパターン圧縮をクリーク被覆問題や頂点彩色問題として定式化し，厳密解法と貪欲解法による... [more] | DC2007-79 pp.77-82 |
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