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研究会 発表日時 開催地 タイトル・著者 抄録 資料番号
MW, EMCJ
(共催)
2010-10-21
15:05
秋田 秋田大学 An Equivalent Circuit Model for Predicting EM Radiation from Stripline Structure with a Thin Wire
Yoshiki KayanoHiroshi InoueAkita Univ.EMCJ2010-56 MW2010-91
 [more] EMCJ2010-56 MW2010-91
pp.25-30
EMCJ
(第二種研究会)
2010-05-27
10:45
宮城 東北大学サイバーサイエンスセンター Equivalent Circuit Analysis of F-SIR Structure with Negative Group Time Delay
Ryosuke YanagisawaYoshiki KayanoHiroshi InoueAkita Univ.
 [more]
EMD 2010-05-21
13:35
秋田 秋田大学 広帯域周波数応用のためのリング発振器を用いたVCOに関する一検討
小林吾生萱野良樹井上 浩秋田大EMD2010-1
 [more] EMD2010-1
pp.1-6
EMD 2010-05-21
16:20
秋田 秋田大学 低速開離時接点の熱伝導のブリッジへの寄与に関する検討
宮永和明萓野良樹秋田大)・高木 相東北大名誉教授)・井上 浩秋田大EMD2010-7
電気接点の接触初期の現象はまだ不明な部分が多く,ブリッジ現象が熱的な条件に依存しているため,電極とホルダの熱の伝導とブリ... [more] EMD2010-7
pp.37-42
EMD 2010-05-21
16:45
秋田 秋田大学 銀系接点低速開離時の短時間アークに関する一検討
萓野良樹宮永和明井上 浩秋田大EMD2010-8
 [more] EMD2010-8
pp.43-48
EMD 2010-03-05
15:40
神奈川 横浜国立大学 スロットを周期的に形成した電源面を持つストリップライン構造からの不要電磁放射
高山 司萓野良樹井上 浩秋田大EMD2009-137
電子機器では電源/グランド層の2つのプレーン間内に配線するストリップライン構造が広く用いられているが,伝送線路に高周波信... [more] EMD2009-137
pp.41-44
EMD 2009-11-19
09:30
東京 日本工業大学 神田キャンパス A study on Length and Diameter of Bridge Related with Holder Heat Capacity
Kazuaki MiyanagaYoshiki KayanoAkita Univ.)・Tasuku TakagiEm. Prof. Tohoku Univ.)・Hiroshi InoueAkita Univ.EMD2009-70
In order to clarify the physics of contact life time and con... [more] EMD2009-70
pp.5-8
EMD 2009-11-20
15:50
東京 日本工業大学 神田キャンパス Current Fluctuation Measurement for Breaking Contact at Transient Period from Bridge to Arc
Shingo HanawaKazuaki MiyanagaYoshiki KayanoHiroshi InoueAkita Univ.EMD2009-103
 [more] EMD2009-103
pp.145-148
EMCJ, MW, IEE-MAG
(共催)
2009-10-23
15:30
岩手 岩手大学・八幡平ロイヤルホテル Physics-Based Equivalent Circuit Model for Predicting EM Radiation from Stripline Structure with One Gapped Reference Plane (Part 2)
Yoshiki KayanoAkita Univ./Missouri Univ. of Science and Technology)・Gang FengJun FanMissouri Univ. of Science and Technology)・Hiroshi InoueAkita Univ.EMCJ2009-74 MW2009-123
 [more] EMCJ2009-74 MW2009-123
pp.177-182
EMCJ, MW, IEE-MAG
(共催)
2009-10-23
16:10
岩手 岩手大学・八幡平ロイヤルホテル ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作(その2)
柳澤良介萓野良樹井上 浩秋田大EMCJ2009-76 MW2009-125
近年,後進波特性や負の群遅延時間などの特異な電磁応答が注目され,新しいマイクロ波回路や信号処理デバイスへの応用が期待され... [more] EMCJ2009-76 MW2009-125
pp.187-192
EMD, EMCJ
(共催)
2009-05-22
13:25
東京 日本工業大学 神田キャンパス 銀接点低速開離時電圧波形の特徴抽出に関する検討
塙 真吾萱野良樹宮永和明井上 浩秋田大EMCJ2009-15 EMD2009-7
電気接点を開離する時にブリッジが発生した後アーク放電に移行する.低速で開離する場合に,ブリッジ発生後,再びブリッジに戻る... [more] EMCJ2009-15 EMD2009-7
pp.35-40
EMCJ, ITE-BCT
(共催)
2009-03-13
12:50
東京 機械振興会館 ICチップ内F-SIR周期構造線路の試作
柳澤良介萓野良樹井上 浩秋田大EMCJ2008-117
近年,後進波特性や負の群遅延時間などの特異な電磁応答が注目され,新しいマイクロ波回路や信号処理デバイスへの応用が期待され... [more] EMCJ2008-117
pp.19-24
EMD 2008-11-15
17:20
宮城 東北文化学園大学(仙台) Computation of Electromagnetic Field Distribution in a Cross-Section of Connector with Contact Failure
Jarno MarttilaYu-ichi HayashiTohoku Univ.)・Yoshiki KayanoAkita Univ.)・Hideaki SoneTohoku Univ.)・Hiroshi InoueAkita Univ.EMD2008-84
 [more] EMD2008-84
pp.77-80
EMD 2008-11-16
13:00
宮城 東北文化学園大学(仙台) A Measurement on Contact Voltage and Shape of Bridge at Low Speed Breaking Contacts
Kazuaki MiyanagaYoshiki KayanoAkita Univ.)・Tasuku TakagiEm. Prof. Tohoku University)・Hiroshi InoueAkita Univ.EMD2008-95
 [more] EMD2008-95
pp.121-124
EMD 2008-11-16
16:40
宮城 東北文化学園大学(仙台) A Study on Relationship between Opening Velocity and Short-Time Arc for Silver Contact
Shingo HanawaKazuaki MiyanagaYoshiki KayanoHiroshi InoueAkita Univ.EMD2008-104
 [more] EMD2008-104
pp.157-160
MW, EMCJ
(共催)
2008-10-23
13:05
山形 山形大学(米沢) ICチップ内配線の伝送及び電磁結合特性の一検討
萓野良樹柳澤良介井上 浩秋田大EMCJ2008-59 MW2008-103
 [more] EMCJ2008-59 MW2008-103
pp.1-6
EMCJ 2008-09-26
13:55
大阪 大阪大学 相互接続した表面マイクロストリップ線路構造からの電磁放射予測のための等価回路モデル
萓野良樹井上 浩秋田大EMCJ2008-52
 [more] EMCJ2008-52
pp.13-18
EMCJ, EMD
(共催)
2008-07-18
16:05
東京 機械振興会館 接点低速閉成時の定常接触電圧到達時間の測定(その2) ~ 銀パラジウムの含有率と定常接触電圧到達時間の関係 ~
宮永和明萓野良樹秋田大)・高木 相東北大名誉教授)・井上 浩秋田大EMCJ2008-48 EMD2008-30
電気接点の開離初期現象と物性値の関係は未だ不明な部分が多い.そこで,本報告では接触電圧の時間変化を知るために銀パラジウム... [more] EMCJ2008-48 EMD2008-30
pp.43-48
EMD 2008-03-07
15:05
東京 都立産業技術高専(荒川キャンパス) 外部磁界印加時の短時間アーク電流ノイズ計測
三浦 光萓野良樹宮永和明井上 浩秋田大EMD2007-131
電気接点の開閉時に発生するアーク放電は電磁ノイズの発生源となるため,EMCは寿命,信頼性などと同様に重要な評価パラメータ... [more] EMD2007-131
pp.29-32
EMD 2007-12-21
13:05
東京 日本航空電子工業株式会社 低速度開離接点の熱解析(その3) ~ 電極の温度上昇に及ぼすホルダー構造の影響 (その3) ~
宮永和明萓野良樹秋田大)・高木 相東北大名誉教授)・井上 浩秋田大EMD2007-100
接点開離時に発生するブリッジおよびアークから発生する熱は電極の損傷などの問題の源である.そこで本研究では熱の影響を,低速... [more] EMD2007-100
pp.1-5
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